Tessent LogicBist
Tessent LogicBist è la soluzione di autotest integrata leader del settore per testare i componenti logici digitali dei circuiti integrati. È una soluzione di test ideale per dispositivi critici per la sicurezza come i circuiti integrati utilizzati nelle applicazioni automobilistiche e mediche.
Perché Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist si integra in modo efficiente con Tessent MissionMode e Tessent TestKompress per creare una soluzione completa di test all'interno del sistema e di produzione per dispositivi critici per la sicurezza.
Migliora la copertura dei test
Progettata per applicazioni ibride TK/LBIST, la tecnologia dei punti di test Tessent VersaPoint migliora il conteggio dei pattern ATPG e la testabilità logica del BIST allo stesso tempo, migliorando la copertura LBIST del 2%-4%.
Rispetta i tempi di test all'interno del sistema
Osservando i dati del circuito ad ogni ciclo di turni, non solo durante l'acquisizione, la tecnologia Observation Scan (OST) riduce significativamente il numero di pattern necessari per raggiungere la copertura del test BIST logico target.
Aumenta l'efficienza dei test
Tessent Hybrid TK/LBIST combina efficacemente l'architettura logica di Tessent TestKompress e LogicBIST per migliorare la qualità dei test evitando qualsiasi penalità di area, sfruttando i vantaggi sia della compressione ATPG che del BIST logico.
Infineon riduce i tempi dei test LBIST alla sicurezza funzionale
In questa presentazione, Daniel Tille di Infineon mostra l'uso di LogicBIST con la tecnologia Observation Scan, che ha dimostrato di ridurre drasticamente i tempi di test con logica integrata (LBIST) per i microcontrollori (MCU) di Infineon Automotive.
