Sono necessari test e monitoraggio continui dei dispositivi per garantire prestazioni, affidabilità e sicurezza ottimali durante tutto il loro funzionamento. Tessent In-System Test consente l'applicazione di modelli di test deterministici di alta qualità per test in sistema/sul campo durante il ciclo di vita del suo chip.
Tessent In-System Test fornisce l'hardware integrato e il software necessari per consentire l'applicazione di modelli di test deterministici di alta qualità riducendo al contempo i tempi di test rispetto al BIST logico tradizionale.
Il test deterministico interno al sistema Le consente di modificare i modelli di test man mano che emergono nuovi difetti e modelli di errore o quando cambiano le esigenze dei contenuti dei test.
Il controller di test interno al sistema recupera i dati dalle interfacce bus, guidando internamente la rete bus Streaming Scan Network per applicare i pacchetti di dati di scansione ai core per i test, riducendo i tempi di test e migliorando il profilo di potenza durante il test.
Riutilizza l'infrastruttura di test su chip esistente per individuare difetti latenti, intermittenti, casuali o legati all'età durante la durata del prodotto, consentendo il riutilizzo di modelli basati su IJTAG e SSN per le applicazioni all'interno del sistema.
Fornisce funzionalità hardware e software completamente automatizzate necessarie per rispondere all'invecchiamento e ai fattori ambientali che si manifestano come errori/corruzione silenziosi dei dati. Il contenuto del test può essere modificato in base all'evoluzione dei requisiti del test.
Lanciato all'ITC 2024, Tessent In-System Test (IST) integra il Tessent Streaming Scan Network (SSN) e ne migliora la capacità di essere utilizzato in un ambiente interno al sistema e sul campo, estendendo così la tecnologia avanzata fornita da Tessent SSN. I progettisti possono applicare modelli di test deterministici incorporati (EDT) generati utilizzando il software Tessent SSN tramite il bus SSN direttamente utilizzando il controller di test interno al sistema.
Tessent In-System Test integra il test deterministico interno al sistema (IS-EDT) con Tessent Streaming Scan Network per consentire agli utenti di eseguire modelli deterministici all'interno del sistema. Sebbene la domanda di modelli IS-EDT sia fondamentale nel settore automobilistico, questa tecnologia avvantaggia anche i progetti di data center e reti. Questo documento illustra come Tessent In-System Test soddisfi le esigenze di test sul sistema e sul campo.
Scopri come l'utilizzo del software Tessent Le consenta di allinearsi agli standard e alle normative emergenti offrendo al contempo una serie completa di soluzioni end-to-end per soddisfare i requisiti degli attuali sviluppi dei circuiti integrati per autoveicoli.
Scopri di più sul ruolo crescente dell'innovazione nella progettazione di circuiti integrati (IC) nella trasformazione digitale in questo white paper.
