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Perché usare Tessent In-System Test?

Tessent In-System Test fornisce l'hardware integrato e il software necessari per consentire l'applicazione di modelli di test deterministici di alta qualità riducendo al contempo i tempi di test rispetto al BIST logico tradizionale.

Consente il test adattivo

Il test deterministico interno al sistema Le consente di modificare i modelli di test man mano che emergono nuovi difetti e modelli di errore o quando cambiano le esigenze dei contenuti dei test.

Funziona con Tessent SSN

Il controller di test interno al sistema recupera i dati dalle interfacce bus, guidando internamente la rete bus Streaming Scan Network per applicare i pacchetti di dati di scansione ai core per i test, riducendo i tempi di test e migliorando il profilo di potenza durante il test.

Riutilizza i modelli di test

Riutilizza l'infrastruttura di test su chip esistente per individuare difetti latenti, intermittenti, casuali o legati all'età durante la durata del prodotto, consentendo il riutilizzo di modelli basati su IJTAG e SSN per le applicazioni all'interno del sistema.

Risponde agli errori silenziosi dei dati

Fornisce funzionalità hardware e software completamente automatizzate necessarie per rispondere all'invecchiamento e ai fattori ambientali che si manifestano come errori/corruzione silenziosi dei dati. Il contenuto del test può essere modificato in base all'evoluzione dei requisiti del test.

Testi qualsiasi cosa, ovunque e in qualsiasi momento

Identifica i difetti nel corso della vita operativa di un dispositivo. Dal wafer al campo, garantisca una qualità senza difetti e un'affidabilità continua. Tessent In-System Test offre una soluzione completa, scalabile e flessibile per la qualità completa del ciclo di vita con consegna dei test basata su HSIO e modelli di errore avanzati.

Immagine di un wafer di silicone con diverse sfumature di blu che si riflettono su di esso.

Abilitare modelli di test deterministici di alta qualità

Lanciato all'ITC 2024, Tessent In-System Test (IST) integra il Tessent Streaming Scan Network (SSN) e ne migliora la capacità di essere utilizzato in un ambiente interno al sistema e sul campo, estendendo così la tecnologia avanzata fornita da Tessent SSN. I progettisti possono applicare modelli di test deterministici incorporati (EDT) generati utilizzando il software Tessent SSN tramite il bus SSN direttamente utilizzando il controller di test interno al sistema.

Utilizzo di modelli di test deterministici di alta qualità

Tessent In-System Test integra il test deterministico interno al sistema (IS-EDT) con Tessent Streaming Scan Network per consentire agli utenti di eseguire modelli deterministici all'interno del sistema. Sebbene la domanda di modelli IS-EDT sia fondamentale nel settore automobilistico, questa tecnologia avvantaggia anche i progetti di data center e reti. Questo documento illustra come Tessent In-System Test soddisfi le esigenze di test sul sistema e sul campo.

microchip incandescente
centro dati

Guardi il webinar dell'IST

Guarda il webinar su richiesta Migliorare la qualità dei test in-system con In-System Deterministic Test.