Skip to main content
Questa pagina viene visualizzata utilizzando la traduzione automatica. Visualizzare la versione in inglese?

Perché Tessent BoundaryScan?

È possibile accedere alla logica Tessent BoundaryScan per tutta la durata dell'IC, inclusi test di produzione a tutti i livelli di confezione, debug del silicio e verifica del sistema per rilevare i difetti prima della spedizione, riduzione dei costi di assistenza sul campo e aumento della soddisfazione del cliente.

Integrazione completa del boundary scan e del controller TAP

Genera e integra automaticamente il codice RTL per il controller TAP e le celle di scansione limite nel design RTL. Genera script per la sintesi logica, banchi di prova di simulazione e modelli di test per i test di produzione.

Supporta diversi formati

Tessent Boundary scan supporta celle di boundary scan personalizzate IEEE 1149.1 e test I/O senza contatto e ha un'opzione per il supporto del boundary scan 1149.6.

Interoperabilità IEEE 1687 IMTAG

Collega automaticamente le reti e gli strumenti IJTAG al controller TAP appena inserito e genera i file Instrument Connectivity Language risultanti. I test I/O sono generati in formato Procedural Description Language (PDL).

Chieda a un esperto - Uomo e donna che fanno un consulto in ufficio.

Pronto a saperne di più su Tessent?

Siamo pronti a rispondere alle sue domande.

Chieda a un esperto

Scopri di più

Schema del circuito stampato con blocchi colorati e linee di collegamento che rappresentano componenti e percorsi elettronici.
all

Conversione della descrizione del linguaggio Boundary Scan

In meno di cinque minuti, il video mostra come utilizzare Tessent IJTAG per convertire facilmente un file BSDL (Boundary Scan Description Language) nel suo equivalente file ICL (Instrument Connectivity Language).

Un diagramma che mostra l'uso del boundary scan per la generazione automatica di modelli di test.
Panoramica della tecnologia
all

Uso della catena Boundary Scan durante l'ATPG

Questo video dimostra l'uso del boundary scan come catena compressa o non compressa durante l'ATPG, quindi non è necessario contattare tutti i pin del dispositivo in test (DUT).