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Microchip AnalogTest.
Tessent Advanced DFT

Tessent AnalogTest

Tessent AnalogTest riduce lo sviluppo e la verifica di modelli di test analogici da mesi di progettazione a ore di progettazione. Essendo l'unica soluzione commerciale attualmente disponibile, è il modo più efficace per massimizzare la copertura dei difetti riducendo i costi dei test.

Perché Tessent AnalogTest?

Il test dei circuiti analogici è stato tradizionalmente un processo manuale noioso. Tessent AnalogTest consente una riduzione da 10 a 100 volte del tempo di test analogico al silicio rispetto ai test con specifiche tradizionali.

Ridurre i costi dei test

I test analogici richiedono lunghi tempi di test su costosi tester a segnale misto. Tessent AnalogTest genera circuiti DFT a impatto minimo e schemi di test digitali per testare blocchi circuitali analogici in <1 ms su tester solo digitali.

Aumentare l'efficienza ingegneristica

Tessent AnalogTest trasforma la DFT analogica e lo sviluppo dei test in un processo rapido e automatizzato. I test strutturali e delle specifiche vengono verificati in simulazione prima di essere eseguiti su ATE o nel sistema, riducendo i tempi di debug.

Massimizza la copertura dei test analogici

I test delle specifiche dei circuiti analogici possono avere una copertura di test inferiore per ridurre al minimo la perdita di rendimento. Il DFT e l'ATPG basati sulla scansione digitale possono fornire modelli di test simulati che consentono una maggiore copertura dei difetti senza aumentare la perdita di resa.

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Riduca il time-to-market con la copertura Tessent AnalogTest

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