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Realizzare il monitoraggio e l'ottimizzazione continui

La soluzione Tessent Embedded Analytics può essere utilizzata per produrre metriche sullo stato e sul funzionamento durante l'intero ciclo di vita di un SoC. Il software integrato basato sull'SDK Tessent Embedded può spingere i monitor intelligenti Tessent Embedded Analytics a creare un sistema di monitoraggio autonomo su chip.

Chip elettronico

Potenziare il debug/ottimizzazione del SoC utilizzando software integrato

Scopra come il software integrato può fornire un'alternativa superiore all'estrazione di informazioni dai monitor su chip

Video

Da DFT al monitoraggio durante il ciclo di vita per i sistemi elettronici

Scopri le soluzioni Tessent Silicon Lifecycle Solutions, dalla progettazione per la testabilità (DFT) al monitoraggio in vita per sistemi elettronici affidabili in questa presentazione Diamond tenuta da Ankur Gupta all'ITC.

Video

Rileva, diagnostica ed esegue il debug dei sistemi in uso

Scopra come migliorare l'osservabilità del sistema nel corso della vita utilizzando la telemetria della tensione in tempo reale e il monitoraggio funzionale.

White paper

Migliorare l'osservabilità del sistema

Una soluzione congiunta che abbina la telemetria fisica on-die del rilevatore di cadute Movellus Aeonic Insight™ con le soluzioni di monitoraggio funzionale di Tessent Embedded Analytics. Collegando questi strumenti tramite il cross-triggering hardware, il sistema offre una visione unica e allineata nel tempo di cosa è successo e perché, correlando direttamente specifiche sequenze di istruzioni o attività del bus con gli eventi PDN fisici che le hanno causate.

IC 3D blu
White paper

Latenza a coda lunga e debug del server

Leggi di più sull'impatto della latenza long tail e del debug del server. Comprendere strategie software dettagliate per evitare la latenza e il debug delle prestazioni.

Un gruppo di persone è in piedi davanti a un grande schermo che mostra un grafico e un testo sulle tecnologie di tendenza.