Questa One Sim FX è un simulatore ad alte prestazioni utilizzato nel Design-For-Test (DFT) per la classificazione funzionale dei guasti per migliorare la copertura dei difetti per circuiti integrati complessi. L'integrazione con Tessent TestKompress, leader di mercato, offre una potente soluzione per avvicinarsi allo zero difetti di parti per milione (DPPM).
Il flusso automatizzato e il supporto del formato Tessent per modelli di guasto avanzati forniscono una soluzione unica per migliorare l'affidabilità di circuiti integrati complessi e ad alte prestazioni.
Risolve i guasti che possono essere attivati solo da schemi funzionali per migliorare la copertura complessiva dei difetti.
Aumentare la copertura dei guasti oltre l'ambito dei modelli di guasto strutturale.
La classificazione funzionale dei guasti aiuta a verificare il corretto funzionamento e la robustezza dei circuiti a segnale misto come i circuiti di sicurezza e i blocchi analogici.
Sebbene i test basati sulla scansione ATPG siano fondamentali per rilevare guasti strutturali di basso livello, la classificazione dei guasti funzionali aiuta a garantire il mantenimento dell'integrità funzionale complessiva del dispositivo e che i modelli di test riflettano le condizioni che il chip subirà nell'uso reale. Questa combinazione di analisi dei guasti strutturali e funzionali aiuta a fornire una strategia di test più completa e solida.
Siemens EDA offre un'assistenza clienti di prim'ordine per Questa One Sim FX e tutti i nostri prodotti.
La Verification Academy fornisce le competenze necessarie per maturare le capacità del processo di verifica funzionale di un'organizzazione, fornendo un ponte metodologico tra proposte di valore di alto livello e dettagli di basso livello.
Per aiutare a comprendere le tecnologie avanzate di verifica funzionale e come applicarle nel modo più efficace, visita il nostro blog per approfondimenti e aggiornamenti su concetti, valori, standard, metodologie ed esempi.
