Panoramica
mPower Analog
Lo strumento mPower Analog offre una scalabilità dell'integrità dell'alimentazione praticamente illimitata ai progetti a livello di transistor per consentire un'analisi EM/IR dinamica veloce, accurata, basata sulla simulazione e ad alta capacità su progetti analogici di qualsiasi dimensione, dal riferimento con gap di banda più piccolo a sistemi e sensori analogici di grandi dimensioni.

Verifica rapida e scalabile dell'integrità dell'alimentazione
La soluzione mPower Power Power Integrity fornisce un'analisi EM/IR dinamica basata sulla simulazione e ad alta capacità per una verifica senza compromessi dell'integrità dell'alimentazione dei progetti analogici in tutti i flussi di progettazione, su qualsiasi scala. Un'analisi analogica rapida e accurata dell'integrità dell'alimentazione consente di effettuare tapeout di analisi della potenza ad alta affidabilità.
Analisi EM/IR dinamica scalabile ad alta capacità
Lo strumento mPower Analog offre scalabilità ai progetti a livello di transistor che in precedenza erano disponibili solo nel dominio digitale per consentire un'analisi EM/IR dinamica basata sulla simulazione e ad alta capacità su circuiti analogici di grandi dimensioni che nessun altro strumento è in grado di gestire.

Flessibilità
Il software mPower Analog offre flessibilità nella simulazione e nell'estrazione grazie alla sua capacità di utilizzare qualsiasi estrattore per guidare la simulazione SPICE post-layout e qualsiasi simulatore SPICE in grado di scrivere un database di segnali veloci).

Facilità d'uso
Il software mPower Analog si inserisce nei flussi di progettazione e verifica analogici esistenti, utilizza formati standard del settore e utilizza un linguaggio TCL semplice e comprensibile per semplificare l'implementazione. Ulteriori vantaggi di facilità d'uso se utilizzato in combinazione con Siemens Strumenti di estrazione parassitaria Calibre e il Piattaforma Analog FastSpice (AFS).

Siemens mPower ci consente di fare qualcosa che non siamo mai stati in grado di fare prima, ovvero valutare con sicurezza l'EM/IR durante il tapeout di circuiti analogici di grandi dimensioni.
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