Skip to main content
Ez az oldal automatikus fordítással jelenik meg. Inkább megnézi angolul?

Miért Tessent YieldInsight?

Speciális adatbányászati és statisztikai elemzési technikák segítségével a Tessent YieldInsight kiküszöböli a diagnosztikai adatokból származó zajt, hogy meghatározza a kiváltó okokat, azonosítsa a szisztematikus hozamkorlátozókat és válassza ki a legjobb eszközöket a hibaelemzéshez.

Rejtett hozamkorlátozók azonosítása

A Tessent YieldInsight azonosítja a szisztematikus hozamveszteség okait, és útmutatást nyújt a hibaelemzéshez szükséges szerszám kiválasztásának folyamatához.

Távolítsa el a zajt a diagnózis eredményeiből

A kiváltó ok dekonvolúciós (RCD) technológiája eltávolítja a diagnosztikai eredményekből származó zajt, és meghatározza a mögöttes kiváltó okokat. Kiválasztja és kiszűri a meghibásodott hulladékok populációit, csoportosítva a hasonló okokból meghibásodott szerszámokat.

Működik a Tessent Diagnosis

Elemzi a Tessent Diagnózis elrendezési és sejttudatos diagnosztikai eredményeit, hogy azonosítsa és elkülönítse a szisztematikus hozamkorlátozókat a hibaelemzés elvégzése előtt, kiküszöbölve a költséges fizikai lokalizáció szükségességét.

Webinárium

Új reverzibilis szkennellánc technológia

Az ASM International házigazdája a Siemens EDA és a Qualcomm spotlámpák közös webináriuma:

  • Motiváció a láncdiagnózis alkalmazásához a hozamrámpában
  • A láncdiagnózis áttekintése, reverzibilis lánc
  • Megfordítható lánctechnológia és diagnosztika
  • Megfordítható láncok megvalósítása
  • Szilikon eredmények a tesztchipről
 A processzorchip közeli képe egy kék háttérrel ellátott áramköri lapon.

További információk