Tessent Diagnosis
A gyártási tesztből származó hibaadatok, a szkennelési tesztminták és a tervezési információk felhasználásával a Tessent Diagnosis azonosítja a hibát okozó hiba helyét és osztályozását.
Miért Tessent Diagnosis?
A Tessent Diagnosis megoldás azonosítja a hibák típusát és helyét, megalapozva a diagnózisvezérelt hozam- és hibaelemzés alapjait.
Pontosan azonosítsa a hibákat és időzítési hibákat
Használjon elrendezési és sejttudatos technológiát a hiba legvalószínűbb meghibásmechanizmusának, logikai helyének és fizikai helyének meghatározásához.
Sejttudatos diagnózis
Végezzen tranzisztorszintű diagnózist a szabványos cellákon belüli hibák azonosításához. Ez a képesség ugyanazt a cellatértő hibamodellt használja ki, mint a cellatértő ATPG esetében, és bármilyen mintázatípushoz használható.
Nagy felbontású láncdiagnosztika
Javítsa a diagnózist > 1,5-szeresével a fejlett folyamatcsomópontokon (5 nm és annál alacsonyabb). Pontos tranzisztorszintű elszigetelést biztosít a szkennelési lánc hibáihoz. Biztosítja, hogy a mélyponti hibák pontosan izolálhatók legyenek.
Korrelál a DFM elemzéssel
A diagnózis eredményei korrelálhatók a DFM elemzés eredményeivel a kritikus tervezési jellemzők azonosítása érdekében. A Tessent Diagnosis képes a Caliber eredményadatbázisait (RDB) olvasni.
Megbízható technológia
A Tessent Diagnosis a legmagasabb pontossággal rendelkező szkennelési diagnosztikai technológia piacvezetője. A Tessent Diagnózis alkalmazásával készített jelentések több mint 80% -át hibaelemzési eljárással erősítették meg.
Láncdiagnosztikai fejlesztések a Tessent technológiákkal
Jayant D'Souza, a Tessent vezető termékmenedzsere arról beszél, hogy a Tessent nagy felbontású láncdiagnosztikai technológiájának felhasználásával javíthatja a hozamot, hogy megfeleljen a piacra kerülő időnek a szisztematikusabb hibák felkutatásával és a felbontás akár 80% -kal történő javításával.
