Miért Tessent LogicBist?
A Tessent LogicBist hatékonyan integrálódik a Tessent MissionMode és a Tessent TestKompress programokkal, hogy teljes körű rendszerbe és gyártáson belüli tesztmegoldást hozzon létre a biztonsági szempontból kritikus eszközök számára.
Javítja a teszt lefedettségét
A hibrid TK/LBIST alkalmazásokhoz tervezett Tessent VersaPoint tesztpont technológia egyszerre javítja az ATPG minták számát és a logikai BIST tesztelhetőségét, 2-4% -kal javítva az LBIST lefedettségét.
Megfelel a rendszerben belüli tesztidőnek
Az áramköri adatok minden műszakcikluson történő megfigyelésével, nemcsak a rögzítés során, az Observation Scan Technology (OST) jelentősen csökkenti a céllogikai BIST teszt lefedettségének eléréséhez szükséges mintaszámot.
Növeli a teszt hatékonyságát
A Tessent Hybrid TK/LBIST hatékonyan ötvözi a Tessent TestKompress és a LogicBist logikai architektúráját, hogy javítsa a tesztminőséget, miközben elkerülheti a területbüntetést, kihasználva mind az ATPG tömörítés, mind a logikai BIST előnyeit.
Az Infineon csökkenti az LBIST tesztidőjét funkcionális biztonságra
Ebben az előadásban Daniel Tille, az Infineon munkatársa bemutatja a LogicBist használatát az Observation Scan technológiával, amely bizonyítottan drasztikusan csökkenti az Infineon Automotive mikrokontrollerek (MCU) logikai beépített önteszt (LBIST) tesztelési idejét.
