Az eszközök folyamatos tesztelése és felügyelete szükséges az optimális teljesítmény, megbízhatóság és biztonság garantálása érdekében a működés során. A Tessent In-System Test lehetővé teszi kiváló minőségű determinisztikus tesztminták alkalmazását a chip életciklusa során a rendszeren belüli és helyszíni teszteléshez.
A Tessent In-System Test biztosítja a beágyazott hardvert és a szükséges szoftvert, hogy lehetővé tegye a kiváló minőségű determinisztikus tesztminták alkalmazását, miközben csökkenti a tesztidőt a hagyományos logikai BIST-hez képest.
A rendszerben belüli determinisztikus teszt lehetővé teszi a tesztminták megváltoztatását új hibák és hibamodellek megjelenésekor vagy a teszt tartalmának megváltozásával.
A rendszerben belüli tesztvezérlő adatokat gyűjt a buszinterfészekről, így a Streaming Scan Network buszhálózatot belsőleg vezeti, hogy szkennelési adatcsomagokat alkalmazzon a magokra tesztelés céljából, csökkenti a tesztidőt és javítja a teljesítményprofilt a teszt során.
A meglévő chipen lévő tesztinfrastruktúrát újra felhasználja a látens, szakaszos, véletlenszerű vagy életkorral összefüggő hibák megcélzására a termék élettartama alatt, lehetővé téve az IJTAG- és SSN-alapú minták újrafelhasználását a rendszerben belüli alkalmazásokhoz.
Teljesen automatizált hardver- és szoftveres képességeket biztosít, amelyek szükségesek az öregedésre és a környezeti tényezőkre való reagáláshoz, amelyek csendes adathibák/korrupcióként jelentkeznek. A teszt tartalma megváltoztatható a teszt követelményeinek fejlődésével.
Az ITC 2024-en indított Tessent In-System Test (IST) kiegészíti a Tessent Streaming Scan Network (SSN) hálózatot, és fokozza a rendszerben belüli, terepen belüli környezetben való használat képességét, ezáltal kiterjesztve a Tessent SSN által nyújtott fejlett technológiát. A tervezők a Tessent SSN szoftver segítségével generált beágyazott determinisztikus teszt (EDT) mintákat alkalmazhatják az SSN buszon keresztül közvetlenül a rendszerbe belüli tesztvezérlő segítségével.
A Tessent In-System Test integrálja a rendszerben belüli determinisztikus tesztet (IS-EDT) a Tessent Streaming Scan Network szolgáltatással, hogy lehetővé tegye a felhasználók számára a determinisztikus minták rendszerben történő futtatását. Míg az IS-EDT minták iránti kereslet kritikus fontosságú az autóiparban, ez a technológia előnyös az adatközpontok és a hálózati tervek számára is. Ez a cikk felvázolja, hogy a Tessent In-System Test hogyan felel meg a rendszerben és a terepen belüli tesztelés igényeinek.
Ismerje meg, hogy a Tessent szoftver használatával hogyan igazodhat a feltörekvő szabványokhoz és előírásokhoz, miközben teljes körű megoldásokat kínál a mai autóipari IC-fejlesztések követelményeinek kielégítésére.
Tudjon meg többet az integrált áramkör (IC) tervezési innovációjának a digitális átalakulásban betöltött növekvő szerepéről ebben a tanulmányban.
