A Tessent DefectSim egy tranzisztorszintű hibastimulátor analóg, vegyes jelű (AMS) és nem szkennelt digitális áramkörökhöz. A hibakefedettséget és a hibatűrűséget méri, és tökéletes mind a nagy térfogatú, mind a nagy megbízhatóságú IC-k számára.
Javítsa az AMS biztonságát, a tesztminőséget és az időt. A Tessent DefectSim helyettesíti az AMS áramkörök kézi tesztlefedettségének értékelését, objektív adatokat generálva a minőségi és funkcionális biztonsági előírások és a teszt lefedettségi céljainak teljesítéséhez szükséges fejlesztések irányításához.
A TestKompress Cell-Aware ATPG-ben a szkennelhető digitális áramkörökhöz használt tranzisztorszintű hibáfecskendezési technikákra épülő DefectSim alkalmas több száz vagy ezer tranzisztort tartalmazó ipari áramköri blokkokhoz.
Hozzon létre egy összefoglalót, amely felsorolja a valószínűséggel súlyozott hibák lefedettségét, konfidencia-intervallumot és egy mátrixot, amely felsorolja az egyes hibákat, és azt, hogy azt egy sikertelen teszthatárral vagy digitális kimenettel észlelték-e.
A klasszikus SPICE párhuzamos CPU-kon történő gyártási tesztek és lapos kibontott elrendezési hálózati listák szimulálásához képest drámaian csökkenti a teljes szimulációs időt.
Számos autóipari IC-en értékeltük a Tessent DefectSim DefectSIM-et, és arra a következtetésre jutottunk, hogy ez egy rendkívül automatizált és rugalmas megoldás, amely irányítja a tesztelési és teszttervezési technikák fejlesztését, és lehetővé teszi számunkra, hogy mérhető módon javítsuk az analóg tesztek hibáinak lefedettségét.
Bemutatkozzon az autóipari funkcionális biztonság analóg hibasimulációjának szerepébe, és fedezze fel az analóg hibastimuláció kihívásait, alkalmazásait, előnyeit és hatását a chipek tervezésére és a biztonsági előírásoknak való megfelelésre.
