Skip to main content
Ez az oldal automatikus fordítással jelenik meg. Inkább megnézi angolul?
Egy személy egy nagy képernyő előtt áll, amely színes absztrakt dizájnt mutat be.
Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

A Tessent BoundaryScan egy komplett megoldás a chipen belüli tesztinfrastruktúra, a határszkennelés és a teszt hozzáférési port automatizált generálásához és integrálásához.

Miért Tessent BoundaryScan?

A Tessent BoundaryScan logika az IC egész élettartama alatt elérhető, beleértve a gyártási tesztet minden csomagszinten, a szilícium hibakeresést és a rendszerellenőrzést a szállítás előtti hibák észlelésére, csökkentve a helyszíni támogatási költségeket és növelve az ügyfelek elégedettségét.

Teljes határszkennelés és TAP vezérlő integrálása

Automatikusan generálja és integrálja a TAP vezérlő RTL-kódját és a határszkennelő cellákat a tervezett RTL-be. Szkripteket hoz létre logikai szintézishez, szimulációs tesztpadokhoz és tesztmintákhoz a gyártási teszthez.

Több formátumot támogat

A Tessent Boundary scan támogatja az IEEE 1149.1 egyedi határszkennelő cellákat és az érintés nélküli I/O tesztet, és 1149.6 határszkennelés támogatására is van lehetőség.

IEEE 1687 IJTAG interoperabilitás

Automatikusan összekapcsolja az IJTAG hálózatokat és műszereket az újonnan behelyezett TAP vezérlőhöz, és létrehoz az így kapott Instrument Connectivity Language fájlo Az I/O teszteket Procedure Description Language (PDL) formátumban állítják elő.

Kérdezze meg egy szakértőt - férfit és nőt, akik konzultációt folytatnak egy irodában.

Készen áll arra, hogy többet megtudjon a Tessentről?

Készen állunk, hogy válaszoljunk a kérdéseire.

Tudj meg többet