Hozzáférhet a Siemens vezetői, a Tessent szakértői, az ügyfelek és partnerek által a Nemzetközi Tesztkonferencián (ITC) előadások széles skálájához. Ismerje meg iparágban vezető megoldásainkat a teszttervezéshez (DFT), az IC-teszthez, a hozamtanuláshoz, valamint az életen belüli monitorozáshoz és elemzéshez.
A Siemens büszke arra, hogy gyémánt támogatója lehet a 2024-es Nemzetközi Tesztkonferenciának. Az alábbiakban megtekintheti a legfontosabb gyémántbemutatók felvételét.
Ankur Gupta, a Siemens EDA digitális tervezési platformjának vezető alelnöke és vezérigazgatója megnyitja a Diamond Event rendezvényt, hogy beszéljen az ITC tömegével a „Transzformatív technológiák a fenntartható jövőért” témában
Anurag Jindal, az Ericsson DFX csoportjának vezetője bemutatja az „Az integrált platform által lehetővé tett gyorsabb és hatékonyabb áramlást”
Vishal Agarwal, az Nvidia vezető igazgatója beszél az ITC 2024 tömegével az AI korszak tesztkihívásairól
Dan Trock, az Amazon Web Services vezető mérnöke bemutatja a „Determinisztikus flottán belüli szkennelési Test AWS felhőben”
A Tessent színházi előadások megtekintése hagyomány az ITC kiállítási emeletén, ahol ügyfeleink és partnereink bemutatják tapasztalataikat a Tessent technológiákkal, referenciafolyamatokkal és együttműködési projektekkel kapcsolatban. Tekintse meg alább az ITC 2024 legfrissebb prezentációit.
Ne hagyja ki ezt a lehetőséget, hogy visszatekintsen, és tanuljon a Tessent szakértőitől az elmúlt évek DFT prezentációitól az ITC-n.
Darshan Kobla, a Microsoft vezető tesztstratégiájának vezető igazgatója az összes termékszegmensben azt javasolja, hogy a DFT erőfeszítései egyszerűek és kiszámíthatók legyenek, ha a tervek összetettek.
Nilanjan Mukherjee, a Siemens EDA Tessent mérnöki igazgatója elmagyarázza, hogyan csökkenti a korai DFT-ellenőrzés a piacra jutás idejét.
Ankur Gupta, a Tessent, a Siemens EDA VP/GM, az ITC Diamond eseményt azzal zárja be, hogy a Siemens EDA hogyan teszi lehetővé az intelligensebb jövőt gyorsabban.
Ne hagyja ki ezt a lehetőséget, hogy visszatekintsen, és tanuljon a Tessent szakértőitől az elmúlt évek DFT prezentációitól az ITC-n.
Ankur Gupta, a Siemens EDA Tessent alelnöke és vezérigazgatója bemutatja a DFT-t az elektronikus rendszerek In-Life felügyeletére az ITC 2022-en.
Dan Trock, az Amazon Web Services vezető mérnöke bemutatja a tervezési erőfeszítések, a tesztidő és a teljesítmény csökkentését az SSN segítségével az AWS Custom Silicon alkalmazásban.
Janusz Rajski, a Siemens EDA, a Tessent kutatás-fejlesztési alelnöke bemutatja a szilícium életciklusának szerkezeti determinisztikus tesztjét.
Vidya Neerkundar, a Tessent termékmenedzsere, a Siemens EDA bemutatja a DFT automatizálás fejlesztéseit a 2.5D/3D IC korszakban.
Áttörő hozamkorlátok a Siemens & PDF Solutions segítségével, amelyeket a Siemens és Thomas Zanon, a PDF Solutions elkötelezettségi igazgatója vezetett be.
Ne hagyja ki ezt a lehetőséget, hogy visszatekintsen, és tanuljon a Tessent szakértőitől az elmúlt évek DFT prezentációitól az ITC-n.
Dave Dehnert, az Intel vezető mérnöke megvitatja az SSN implementációját egy nagy többfunkciós SOC-n.
Wu Yang, a Siemens EDA Tessent műszaki és öntödei programvezetője bemutatja az EDA perspektíváját a 3D IC tesztről, beleértve az IEEE 1838 és a 3D stack teszt módszertanát.
Janusz Rajski, a Siemens EDA Tessent kutatási és fejlesztési alelnöke bemutatja a mintázattömörítési technológia jelenlegi állapotával kapcsolatos munkát.
Lee Harrison, a Siemens EDA Tessent autóipari tesztmegoldásainak vezetője feltárja az IC teszt biztonsági kihívásainak kérdéseit.
Lee Harrison, a Siemens EDA Tessent autóipari tesztmegoldásainak vezetője megvitatja a Silicon Lifecycle Management (SLM) eszközeinek használatát az autóipari elektronikára gyakorolt öregedési hatások figyelemmel kísérésére.
Srinu Alampally, a Broadcom mestermérnöke bemutatja a 3 GHz-es tervek javító tesztjét SSN segítségével.
A Samsung Foundry Dongkwan Han nevében bemutatott Plug & Play DFT megoldásokat a nagy teljesítményű számítástechnikai (HPC) /AI számára.
