A Questa One Sim FX egy nagy teljesítményű szimulátor, amelyet a Design-For-Test (DFT) alkalmazásban használnak funkcionális hibaosztályozáshoz, hogy javítsa a komplex IC-k hibáinak lefedettségét. A piacvezető Tessent TestKompress TestKompress-szel való integráció hatékony megoldást kínál a nulla hibás alkatrészek millionkénti (DPPM) eléréséhez.
A fejlett hibamodellek Tessent formátumának automatizált áramlása és támogatása egyedülálló megoldást nyújt a nagy teljesítményű és összetett IC-k megbízhatóságának javítására.
A hiba általános lefedettségének javítása érdekében csak funkcionális mintákkal aktiválható hibák kezelése.
Növelje a hiba lefedettségét a szerkezeti hibamodellek körén túl.
A funkcionális hibaosztályozás segít a vegyes jelű áramkörök, például a biztonsági áramkörök és az analóg blokkok helyes működésének és robusztusságának ellenőrzésében.
Míg az ATPG szkennelésen alapuló tesztelés kritikus fontosságú az alacsony szintű szerkezeti hibák észleléséhez, a funkcionális hibaosztályozás segít biztosítani, hogy a készülék általános funkcionális integritása megmaradjon, és hogy a tesztminták tükrözzék azokat a feltételeket, amelyeket a chip a valós használat során tapasztalni fog. A szerkezeti és funkcionális hibaelemzés ezen kombinációja elősegíti az átfogóbb és robusztusabb tesztelési stratégiát.
A Siemens EDA világszínvonalú ügyféltámogatást kínál a Questa One Sim FX és minden termékünkhöz.
Az Ellenőrző Akadémia biztosítja a szervezet funkcionális ellenőrzési folyamatképességeinek kifejlesztéséhez szükséges készségeket, módszertani hidat biztosítva a magas szintű értékjavaslatok és az alacsony szintű részletek között.
A fejlett funkcionális ellenőrzési technológiák megértéséhez és azok leghatékonyabb alkalmazásához látogasson el blogunkra, ahol betekintést és frissítéseket talál a fogalmakról, értékekről, szabványokról, módszertanokról és példákról.
