Skip to main content
Ova se stranica prikazuje pomoću automatiziranog prijevoda. Umjesto toga, pogledaj na engleskom?

Zašto Simcenter Micred T3STER?

Simcenter Micred T3STER napredni je nedestruktivni prolazni toplinski tester za toplinsku karakterizaciju pakiranih poluvodičkih uređaja (diode, BJT-ovi, energetski MOSFET, IGBT, LED diode za napajanje) i višestrukih uređaja. Mjeri pravi toplinski prolazni odgovor učinkovitije od metoda u stacionarnom stanju. Mjerenja su do ± 0,01° C s vremenskom razlučivošću do 1 mikrosekunde. Funkcije strukture nakon obrade odgovora u grafikon koji prikazuje toplinski otpor i kapacitet značajki paketa duž puta protoka topline. Simcenter Micred T3STER idealan je alat za otkrivanje kvarova prije i nakon stresa. Mjerenja se mogu izvesti za kalibraciju toplinskog modela, podupirući točnost toplinskog projektnog napora.

Omogućite brže rezultate samo jednim testomSimcenter Micred T3STER jednostavan je za korištenje i brz. Daje potpuno ponovljive rezultate, tako da svaki test treba provesti samo jednom. Simcenter Micred T3STER testira pakirane IC-ove koristeći samo električne veze za napajanje i senzor, dajući brze, ponovljive rezultate i eliminirajući potrebu za višestrukim ispitivanjima na istom dijelu. Komponente se mogu testirati in situ, a rezultati ispitivanja mogu se koristiti kao kompaktni termalni model ili za kalibraciju detaljnog modela.

Testirajte sve vrste pakiranih poluvodičaPraktično sve vrste pakiranih poluvodiča mogu se testirati, od energetskih dioda i tranzistora do velikih i vrlo složenih digitalnih IC-ova, uključujući dijelove koji su montirani na ploču, pa čak i pakirani u proizvod.

Jednostavno rečeno, u komponentu se ubrizgava impuls snage i njezin temperaturni odziv bilježi se vrlo precizno u odnosu na vrijeme. Sam poluvodič koristi se i za napajanje dijela i za osjetiti temperaturni odziv pomoću parametra osjetljivog na temperaturu na površini matrice, poput tranzistora ili diodne strukture.

Pristupite pouzdanom softveruSoftver isporučen sa Simcenter Micred T3STER pruža veliku vrijednost rješenja. To je zato što softver Simcenter Micred T3STER može uzeti trag temperature u odnosu na vrijeme i pretvoriti ga u ono što je poznato kao funkcija strukture. Diskretne značajke paketa, kao što je pričvršćivač za matricu, mogu se otkriti na ovom planu, što Simcenter Micred T3STER čini izvrsnim dijagnostičkim alatom u razvoju proizvoda. Grafikon se također može koristiti za kalibraciju detaljnog 3D toplinskog modela u Simcenter Flothermu, stvarajući toplinski model paketa čipova koji predviđa temperaturu i u prostoru i u vremenu s točnošću od 99+%.

Postignite veću točnost u simulaciji hlađenja elektronike mjerenjem i kalibracijom

Ova bijela knjiga uzima u obzir čimbenike veće točnosti za modeliranje rasipanja topline u tragovima i veze unutar simulacije. Ilustrira toplinsko mjerenje IGBT modula pomoću Simcenter T3STER i kalibraciju modela u kombinaciji s toplinskom simulacijom u Simcenter Flothermu.

Mogućnosti Simcenter T3STER

Termičko ispitivanje

Obitelj hardverskih rješenja za toplinsku karakterizaciju pruža dobavljačima komponenti i sustava mogućnost preciznog i učinkovitog testiranja, mjerenja i termičke karakterizacije paketa poluvodičkih integriranih sklopova, pojedinačnih i niznih LED dioda, složenih i višestrukih paketa, modula energetske elektronike, svojstava materijala toplinskog sučelja (TIM) i kompletnih elektroničkih sustava.

Naša hardverska rješenja izravno mjere stvarne krivulje grijanja ili hlađenja pakiranih poluvodičkih uređaja kontinuirano i u stvarnom vremenu, umjesto da to umjetno sastavljaju iz rezultata nekoliko pojedinačnih testova. Mjerenje pravog toplinskog prolaznog odziva na ovaj način daleko je učinkovitije i točnije, što dovodi do točnijih toplinskih metrika od metoda stacionarnog stanja. Mjerenja se moraju izvršiti samo jednom po uzorku, a ne ponoviti i prosječno uzeti kao kod metoda u stanju dinamičke ravnoteže.

Pročitajte više o termičkom ispitivanju

Pogledajte webinar

A visual of the Simcenter Micred Powertester hardware.
Bijeli papir

Toplinska karakterizacija složene elektronike

Pročitajte ovaj bijeli rad i saznajte o ulozi toplinskog prolaznog mjerenja za karakteriziranje toplinskog ponašanja poluvodiča.

Čip za obradu spojen na kružnu ploču