Skip to main content
Ova se stranica prikazuje pomoću automatiziranog prijevoda. Umjesto toga, pogledaj na engleskom?
Osoba stoji ispred velikog zaslona koji prikazuje grafikon s crvenom linijom.
Tessent Yield Learning

Tessent YieldInsight

Tessent YieldInsight statistički analizira podatke o dijagnozi kako bi identificirao i odvojio sustavne ograničivače prinosa prije nego što se izvrši bilo kakva analiza kvara. Tessent YieldInsight specijaliziran je za razumijevanje i identificiranje gubitka prinosa iz podataka testa skeniranja i čini rezultate dijagnoze volumena djelotvornima.

Zašto Tessent YieldInsight?

Koristeći specijalizirane tehnike rudarenja podataka i statističke analize, Tessent YieldInsight uklanja buku iz podataka dijagnoze kako bi utvrdio temeljne uzroke, identificirao sustavne ograničivače prinosa i odabrao najbolje uređaje za analizu kvarova.

Identificirajte skrivene ograničivače prinosa

Tessent YieldInsight identificira uzrok sustavnog gubitka prinosa i daje smjernice kroz proces odabira matrice za analizu kvara.

Uklonite buku iz rezultata dijagnoze

Tehnologija dekonvolucije korijenskih uzroka (RCD) uklanja buku iz rezultata dijagnoze i određuje temeljne uzroke. Odabire i filtrira populacije neuspjelih mrtvaca, grupirajući matrice koje ne uspijevaju iz sličnih razloga.

Radi s Tessent Diagnosis

Analizira rezultate dijagnoze svjesne rasporeda i stanično svjesne dijagnoze iz Tessent Diagnosis kako bi se identificirali i odvojili sustavne ograničivače prinosa prije nego što se izvrši bilo kakva analiza kvara, eliminirajući potrebu za skupom fizičkom lokalizacijom.

Webinar

Nova tehnologija reverzibilnog lanca skeniranja

Domaćin je ASM International, ovaj zajednički webinar između Siemens EDA i Qualcomm reflektora:

  • Motivacija za korištenje dijagnoze lanca u rampi prinosa
  • Pregled dijagnoze lanca, reverzibilni lanac
  • Tehnologija reverzibilnog lanca i dijagnoza
  • Implementacija reverzibilnih lanaca
  • Rezultati silicija iz testnog čipa
 Izbliza procesorskog čipa na ploči s plavom pozadinom.

Saznajte više