Tessent SiliconInsight
Tessent SiliconInsight pruža automatizirano interaktivno okruženje za testiranje, uklanjanje pogrešaka i karakterizaciju silicija uređaja koji sadrže Tessent ATPG, EDT, BIST i/ili IJTAG testne strukture.
Zašto Tessent SiliconInsight?
Uvelike povećajte produktivnost tijekom provjere valjanosti silicija i ispravljanja pogrešaka, ubrzavajući vrijeme ulaska na tržište. Rješenje Tessent SiliconInsight radi u stolnom okruženju i povezuje se s bilo kojom pločom za ispravljanje pogrešaka, performansi ili donošću ploču, pristupajući do 120 pinova uređaja.
Potvrdite uzorke ispitivanja prije prvog silicija
Potvrdite uzorke ispitivanja prije prvog silicija koristeći dizajn u standardnom simulatoru, ubrizgajte greške, okarakterizirajte potencijalne scenarije kvarova bez silicija.
Jeftina karakterizacija visoke dostupnosti
Okruženje za ispravljanje pogrešaka na radnoj površini za ATPG, MBIST, LBIST i IJTAG putem pristupa do 120 pinova uređaja pomoću USB adaptera treće strane. Shmoo sposobnost napajanja i sata kroz GPIB.
Povežite snagu IJTAG-a s ATE-om
Tehnologija ATE-connect stvara industrijsko standardno sučelje za uklanjanje komunikacijskih prepreka između vlasničkog softvera specifičnog za ispitivače i platformi za dizajn za testiranje (DFT).
Ubrzanje povećanja uzorka na dizajne s velikim brojem pinova
Slušajte kako Ari Krantz, DFT inženjer u Broadcomu, raspravlja o ubrzavanju donošenja uzoraka na dizajne s velikim brojem pinova, industrijskoj studiji slučaja koja koristi SiliconInsight-HP beta.
Prevladajte prepreke prinosa pomoću PDF Solutions i Siemensa
Probijanje barijera prinosa i ubrzanje rampe prinosa zahtijeva nova rješenja koja koriste najbolje tehnologije na tržištu. Na ovom webinaru tehnolozi Siemens i PDF Solutions predstavljaju integrirano, sveobuhvatno rješenje od kraja do kraja koje uključuje analitiku, dijagnozu skeniranja i strojno učenje.
