Tessent MemoryBist pruža cjelovito rješenje za brzo testiranje, dijagnozu, popravak, uklanjanje pogrešaka i karakterizaciju ugrađenih memorija. Koristeći fleksibilnu hijerarhijsku arhitekturu, ugrađeni samo-testiranje i samopopravak mogu se integrirati u pojedinačne jezgre kao i na najvišoj razini.
Tessent MemoryBist, vodeće u industriji ugrađeno u memoriju, uključuje jedinstveno sveobuhvatan protok automatizacije koji omogućuje provjeru pravila dizajna, planiranje ispitivanja, integraciju i provjeru na razini RTL-a ili vrata.
Tessent MemoryBist ECC povećava pouzdanost, poboljšava kvalitetu ispitivanja i štiti od oštećenja starenja. Njegovi prilagodljivi kriteriji prolaze/neuspjeha omogućuju optimalnu kombinaciju redundancije memorije i koda za ispravljanje pogrešaka.
Tessent MemoryBist NVM pruža fleksibilno testiranje i popravak, smanjuje troškove ispitivanja proizvodnje i povećava pouzdanost. Automatizirani algoritmi specifični za NVM omogućuju specijalizirane načine pristupa i rad s ECC opcijom. Dostupno. rano 26
Napredni BAP pruža podesivo sučelje za optimizaciju testiranja u sustavu. Također podržava protokol niske latencije za konfiguriranje memorijskog BIST kontrolera, izvršavanje Go/NoGo testova i praćenje statusa prolaze/kvara.
Algoritmi za testiranje memorije mogu se tvrdo kodirati u kontroler Tessent MemoryBist, a zatim primijeniti na svaku memoriju putem kontrole vremena izvođenja. To vam omogućuje odabir kraćih algoritama ispitivanja kako sazrijeva proizvodni proces.
Opcija popravka Tessent MemoryBist eliminira složenost i troškove povezane s vanjskim tokovima popravaka. Testira i trajno popravlja sve neispravne memorije u čipu koristeći gotovo nikakve vanjske resurse.
Gledajte Etienne Racine, Tessent Product Manager, kako govori o tome kako Tessent MemoryBist može pomoći maksimizirati kvalitetu ispitivanja, smanjiti vrijeme testiranja, poboljšati prinos i popraviti memorije svojom fleksibilnom arhitekturom.
Saznajte kako vam korištenje Tessent softvera omogućuje usklađivanje s novim standardima i propisima, istovremeno nudeći cjelovit skup rješenja za zadovoljavanje zahtjeva današnjeg razvoja automobilskih IC sustava.
Ovaj rad opisuje prednosti korištenja zajedničke arhitekture sabirnice za testiranje i popravak memorija unutar iPS jezgara i predstavlja automatizaciju dostupnu u Tessent MemoryBist.
Ova studija slučaja opisuje kako je ON Semiconductor koristio hijerarhijski protok Tessent MemoryBist kako bi smanjio vrijeme umetanja memorije BIST za 6X.
