Zašto Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist se učinkovito integrira s Tessent MissionMode i Tessent TestKompress kako bi stvorio cjelovito rješenje za ispitivanje u sustavu i proizvodnji za sigurnosne kritične uređaje.
Poboljšava pokrivenost testa
Dizajnirana za hibridne TK/LBIST aplikacije, tehnologija testnih točaka Tessent VersaPoint istovremeno poboljšava broj ATPG uzoraka i logičku BIST testiranje, poboljšavajući pokrivenost LBIST -a za 2% -4%.
Zadovoljava vrijeme ispitivanja u sustavu
Promatranjem podataka kruga u svakom ciklusu pomaka, ne samo u snimanju, tehnologija skeniranja opservacije (OST) značajno smanjuje broj uzoraka potrebnih za postizanje pokrivenosti ciljne logike BIST testa.
Povećava učinkovitost ispitivanja
Tessent Hybrid TK/LBIST učinkovito kombinira logičku arhitekturu Tessent TestKompress i LogicBist kako bi poboljšao kvalitetu ispitivanja uz izbjegavanje bilo kakve kazne za područje, iskorištavajući prednosti i kompresije ATPG-a i logičkog BIST-a.
Infineon smanjuje vrijeme testiranja LBIST -a na funkcionalnu sigurnost
U ovoj prezentaciji Daniel Tille iz tvrtke Infineon prikazuje upotrebu LogicBist-a s tehnologijom opservacijskog skeniranja, za koju je dokazano da drastično smanjuje vrijeme testiranja logičkog ugrađenog samo-testiranja (LBIST) za Infineon Automotive mikrokontrolere (MCU).
