Skip to main content
Ova se stranica prikazuje pomoću automatiziranog prijevoda. Umjesto toga, pogledaj na engleskom?
Hodnik u podatkovnom centru koji prikazuje poslužitelje podataka iza staklenih vrata.
Tessent Advanced DFT

Tessent In-System Test

Potrebno je kontinuirano testiranje i nadzor uređaja kako bi se zajamčile optimalne performanse, pouzdanost i sigurnost tijekom njihovog rada. Tessent In-System Test omogućuje primjenu visokokvalitetnih determinističkih uzoraka ispitivanja za testiranje u sustavu/na terenu tijekom životnog ciklusa vašeg čipa.

Zašto koristiti Tessent In-System Test?

Tessent In-System Test pruža ugrađeni hardver i potreban softver za omogućavanje primjene visokokvalitetnih determinističkih uzoraka ispitivanja uz smanjenje vremena ispitivanja u usporedbi s tradicionalnom logikom BIST.

Omogućuje prilagodljivi test

Deterministički test u sustavu omogućuje vam promjenu uzoraka ispitivanja kako se pojavljuju novi nedostaci i modeli kvarova ili kako se mijenjaju potrebe sadržaja testa.

Radi s Tessent SSN

Kontroler ispitivanja u sustavu preuzima podatke s sučelja sabirnice, interno pokrećući mrežu sabirnice Streaming Scan Network kako bi primijenila pakete podataka skeniranja na jezgre radi testiranja, smanjujući vrijeme ispitivanja i poboljšavajući profil snage tijekom ispitivanja.

Ponovno koristi uzorke ispitivanja

Ponovno koristi postojeću infrastrukturu za ispitivanje na čipu za ciljanje latentnih, isprekidanih, slučajnih ili starosnih nedostataka tijekom životnog vijeka proizvoda omogućavajući ponovnu uporabu obrazaca temeljenih na IJTAG i SSN-u za primjene u sustavu.

Odgovara na tihe pogreške podataka

Pruža potpuno automatizirane hardverske i softverske mogućnosti potrebne za odgovor na starenje i čimbenike okoliša koji se manifestiraju kao tihe pogreške podataka/korupcija. Sadržaj Test može se mijenjati kako se razvijaju zahtjevi za testiranje.

Omogućavanje visokokvalitetnih determinističkih uzoraka ispitivanja

Pokrenut na ITC 2024, Tessent In-System Test (IST) nadopunjuje Tessent Streaming Scan Network (SSN) i poboljšava njegovu sposobnost korištenja u sustavnom okruženju na terenu, proširujući tako naprednu tehnologiju koju pruža Tessent SSN. Dizajneri mogu primijeniti ugrađene determinističke testove (EDT) generirane pomoću Tessent SSN softvera putem SSN sabirnice izravno pomoću kontrolera ispitivanja unutar sustava.

Korištenje visokokvalitetnih determinističkih uzoraka ispitivanja

Tessent In-System Test integrira deterministički test unutar sustava (IS-EDT) s mrežom Tessent Streaming Scan Network kako bi korisnicima omogućio pokretanje determinističkih obrazaca u sustavu. Iako je potražnja za IS-EDT obrascima kritična u automobilskoj industriji, ova tehnologija također koristi podatkovnim centrima i mrežnim dizajnom. Ovaj rad opisuje kako Tessent In-System Test zadovoljava potrebe za ispitivanjem u sustavu i na terenu.

užareni mikročip
podatkovni centar

Pogledajte IST webinar

Pogledajte webinar na zahtjev Poboljšanje kvalitete ispitivanja u sustavu pomoću determinističkog Test unutar sustava.

Saznajte više