Osoba stoji ispred velikog zaslona koji prikazuje šareni apstraktni dizajn.

Tessent Advanced DFT

Tessent BoundaryScan

Tessent BoundaryScan je cjelovito rješenje za automatizirano generiranje i integraciju ispitne infrastrukture na čipu, graničnog skeniranja i priključka za testni pristup.

Zašto Tessent BoundaryScan?

Tessent BoundaryScan logici može se pristupiti tijekom cijelog vijeka trajanja IC-a, uključujući proizvodni test na svim razinama paketa, uklanjanje pogrešaka u siliciju i provjeru sustava za otkrivanje nedostataka prije otpreme, smanjenje troškova podrške na terenu i povećanje zadovoljstva kupaca.

Kompletno skeniranje granica i integracija TAP kontrolera

Automatski generira i integrira RTL kod za TAP kontroler i ćelije graničnog skeniranja u RTL dizajn. Generira skripte za logičku sintezu, simulacijske testne stolove i testne obrasce za proizvodni test.

Podržava više formata

Tessent Boundary scan podržava IEEE 1149.1 prilagođene ćelije za skeniranje granica i beskontaktni I/O test i ima opciju za podršku za skeniranje granica 1149.6.

IEEE 1687 IJTAG interoperabilnost

Automatski povezuje IJTAG mreže i instrumente s novoumetnutim TAP kontrolerom i generira rezultirajuće datoteke jezika za povezivanje instrumenta. I/O testovi generiraju se u formatu Procedural Description Language (PDL).

Saznajte više

Prezentacija

Tessent ugrađeno skeniranje granica

Ovaj videozapis prikazuje tijek implementacije Tessent Boundary Scan (1149.1) na najvišoj razini i Tessent Embedded Boundary Scan na razini fizičkog bloka u Tessent Shell-u.

Dijagram pločice s obojenim blokovima i spojnim linijama koje predstavljaju elektroničke komponente i putove.

Pretvaranje opisa jezika graničnog skeniranja

Za manje od pet minuta videozapis prikazuje kako se pomoću Tessent IJTAG može lako pretvoriti datoteku BSDL (Boundary Scan Description Language) u ekvivalent datoteke ICL (Instrument Connectivity Language).

Dijagram koji prikazuje upotrebu graničnog skeniranja za automatsko generiranje uzoraka ispitivanja.

Pregled tehnologije

Korištenje lanca graničnog skeniranja tijekom ATPG-a

Ovaj video prikazuje upotrebu graničnog skeniranja kao komprimiranog ili nekomprimiranog lanca tijekom ATPG-a, tako da sve pinove uređaja koji se testira (DUT) nije potrebno kontaktirati.

Ljudi koji gledaju strojno učenje ili grafikon dubokog učenja

Put učenja

Tessent trening > Tessent integrirani protok

Naučite kako implementirati MBIST, BoundaryScan, IJTAG, Scan Insertion i TestKompress u svoj dizajn kako biste postigli visoku kvalitetu ispitivanja pomoću više Tessent alata.