Tessent AnalogTest
Tessent AnalogTest smanjuje razvoj i provjeru analognog uzorka ispitivanja od inženjerskih mjeseci do inženjerskih sati. Kao jedino trenutno dostupno komercijalno rješenje, to je najučinkovitiji način za maksimiziranje pokrivenosti nedostataka uz smanjenje troškova ispitivanja.
Zašto Tessent AnalogTest?
Testiranje analognih krugova tradicionalno je bio zamoran, ručni postupak. Tessent AnalogTest omogućuje 10x-100x smanjenje analognog vremena testiranja silicija u usporedbi s tradicionalnim testovima specifikacije.
Smanjite troškove ispitivanja
Analogno testiranje zahtijeva dugo vrijeme ispitivanja na skupim ispitivačima mješovitih signala. Tessent AnalogTest generira DFT sklopove s minimalnim utjecajem i digitalne uzorke ispitivanja za testiranje bloka analognog kruga u <1 ms na digitalnim testerima.
Povećajte inženjersku učinkovitost
Tessent AnalogTest pretvara analogni DFT i razvoj testa u brz, automatizirani proces. Strukturni i specifikacijski testovi provjeravaju se u simulaciji prije pokretanja na ATE ili u sustavu, smanjujući vrijeme otklanjanja pogrešaka.
Maksimizirajte pokrivenost analognim testom
Ispitivanje specifikacija analognih krugova može imati nižu pokrivenost ispitivanjem kako bi se smanjio gubitak prinosa. DFT i ATPG zasnovani na digitalnom skeniranju mogu pružiti simulirane uzorke ispitivanja koji postižu veću pokrivenost kvarova bez povećanja gubitka prinosa.
Smanjite vrijeme ulaska na tržište uz pokrivenost Tessent AnalogTest
Saznajte kako smanjiti izlaz iz proizvodnih testova za analogne i mješovite signalne krugove i poboljšati vrijeme proizvoda na tržište pomoću Tessent AnalogTest.