Skip to main content
Ova se stranica prikazuje pomoću automatiziranog prijevoda. Umjesto toga, pogledaj na engleskom?

Realizirati kontinuirano praćenje i optimizaciju

Rješenje Tessent Embedded Analytics može se koristiti za izradu mjernih podataka o zdravlju i radu tijekom životnog ciklusa SoC-a. Ugrađeni softver temeljen na Tessent Embedded SDK može pokrenuti pametne monitore Tessent Embedded Analytics kako bi stvorili samostalni sustav praćenja na čipu.

Elektronski čip

Pojačajte pogrešku/optimizaciju SoC-a pomoću ugrađenog softvera

Otkrijte kako ugrađeni softver može pružiti vrhunsku alternativu izvlačenju uvida iz monitora na čipu

Videozapis

DFT do praćenja tijekom života za elektroničke sustave

Otkrijte Tessent Silicon Lifecycle Solutions od dizajna za testiranje (DFT) do praćenja pouzdanih elektroničkih sustava tijekom života u ovoj dijamantskoj prezentaciji koju je održao Ankur Gupta na ITC-u.

Videozapis

Otkrivanje, dijagnosticiranje i uklanjanje pogrešaka sustava u životu

Otkrijte kako poboljšati vidljivost sustava u životu pomoću telemetrije napona u stvarnom vremenu i funkcionalnog praćenja.

Bijela knjiga

Poboljšanje vidljivosti sustava

Zajedničko rješenje koje spaja fizičku telemetriju na matrici iz Movellus Aeonic Insight™ Droop Detector s funkcionalnim rješenjima za nadzor tvrtke Tessent Embedded Analytics. Povezivanjem ovih instrumenata putem hardverskog unakrsnog pokretanja, sustav nudi jedinstveni, vremenski usklađen prikaz onoga što se dogodilo i zašto, izravno povezujući određene sekvence instrukcija ili aktivnost sabirnice s fizičkim PDN događajima koji su ih uzrokovali.

3D IC Plava
Bijela knjiga

Duga latencija i ispravljanje pogrešaka na poslužitelju

Pročitajte više o utjecaju kašnjenja dugog repa i ispravljanju pogrešaka na poslužitelju. Razumjeti detaljne softverske strategije za izbjegavanje kašnjenja i otklanjanje pogrešaka u performansama.

Skupina ljudi stoji ispred velikog zaslona koji prikazuje grafikon i tekst o trendovskim tehnologijama.