Sa svojim integriranim brzim 3D rješavačem polja i vrlo paralelnom arhitekturom, Calibre xACT alat za ekstrakciju parazita kombinira točnost s performansama potrebnim za višemilijunske dizajne primjeraka.
Stupite u kontakt s našim tehničkim timom: 1-800-547-3000
Rješenje Calibre xACT nudi opcije ekstrakcije parazita za modeliranje međusobnog povezivanja koje osiguravaju točno hvatanje parazitskih efekata i efekata ovisnih o rasporedu za neplanarne uređaje u naprednim dizajnom čvorova, istodobnu ekstrakciju s više uglova za učinkovitu obradu i točnu identifikaciju kršenja gustoće EM struje, kao i točnu ekstrakciju i modeliranje za 3D IC pakete.
Svestrana platforma za ekstrakciju parazita pruža točne, determinističke, ponovljive rezultate s 10x većim performansama prethodnih rješenja za rukovanje širokim rasponom dizajna i naprednih procesa
Podržava najnaprednije modele ljevaonica, uključujući FinFET, i vodeće čvorove procesa s točnim, determinističkim rezultatima. Rezultati istodobne ekstrakcije s više kuta precizno odgovaraju rezultatima s jednim uglom.
Učinkoviti algoritmi, napredne računske metode i višenitna, distribuirana arhitektura obrade pružaju performanse i kapacitet za rukovanje višemilijunskim digitalnim dizajnom primjeraka.
Koristi standardne SVRF datoteke pravila za proizvodnju parazitskih mrežnih formata. Dio platforme Calibre i podržan od svih većih ljevaonica. Pruža pouzdano prepoznavanje uređaja, izdvajanje povezivanja i jednostavnost korištenja.
Stojimo spremni da odgovorimo na vaša pitanja! Kontaktirajte naš tim već danas
Pozovite: 1-800-547-3000
Pomažemo vam usvojiti, implementirati, prilagoditi i optimizirati vaša složena dizajnerska okruženja. Izravni pristup inženjeringu i razvoju proizvoda omogućuje nam da iskoristimo duboku stručnost u domenu i temama.
Siemens centar za podršku pruža vam sve na jednom mjestu jednostavnom za korištenje -
baza znanja, ažuriranja proizvoda, dokumentacija, slučajevi podrške, informacije o licenci/narudžbi i još mnogo toga.
Paket alata Calibre pruža preciznu, učinkovitu, sveobuhvatnu provjeru i optimizaciju IC-a u svim procesnim čvorovima i stilovima dizajna uz minimiziranje korištenja resursa i rasporeda snimanja.
