Tessent Yieldinsight
Tessent Yieldinsight analyse les données de diagnostic de manière statistique afin d'identifier et de séparer les limiteurs de rendement systématiques avant toute analyse des défaillances. Tessent Yieldinsight est spécialisé dans la compréhension et l'identification des pertes de rendement à partir des données des tests de numérisation et rend les résultats des diagnostics de volume exploitables.
Pourquoi Tessent Yieldinsight ?
À l'aide de techniques spécialisées d'exploration de données et d'analyse statistique, Tessent Yieldinsight élimine le bruit des données de diagnostic afin de déterminer les causes sous-jacentes, d'identifier les limiteurs de rendement systématiques et de sélectionner les meilleurs appareils pour l'analyse des défaillances.
Identifiez les limiteurs de rendement cachés
Tessent Yieldinsight identifie la cause d'une perte de rendement systématique et fournit des conseils tout au long du processus de sélection de la matrice pour l'analyse des défaillances.
Supprimer le bruit des résultats du diagnostic
La technologie de déconvolution des causes profondes (RCD) supprime le bruit des résultats du diagnostic et détermine les causes profondes sous-jacentes. Il sélectionne et filtre les populations d'échecs, en regroupant les matrices qui échouent pour des raisons similaires.
Fonctionne avec Tessent Diagnosis
Analyse les résultats du diagnostic basé sur la mise en page et les cellules de Tessent Diagnosis afin d'identifier et de séparer les limiteurs de rendement systématiques avant toute analyse des défaillances, éliminant ainsi le besoin d'une localisation physique coûteuse.
Une nouvelle technologie de chaîne de numérisation réversible
Organisé par ASM International, ce webinaire conjoint entre Siemens EDA et Qualcomm met en lumière :
- Motivation à utiliser le diagnostic de la chaîne pour augmenter le rendement
- Présentation du diagnostic en chaîne, chaîne réversible
- Technologie des chaînes réversibles et diagnostic
- Mise en place de chaînes réversibles
- Résultats d'un test sur du silicium
