Pourquoi Tessent Diagnosis ?
La solution Tessent Diagnosis identifie le type et la localisation des défauts, jetant ainsi les bases d'une analyse du rendement et des défaillances axée sur le diagnostic.
Identifiez avec précision les défauts et les erreurs de chronométrage
Utilisez une technologie sensible à la mise en page et aux cellules pour déterminer le mécanisme de défaillance le plus probable d'un défaut, sa localisation logique et sa localisation physique.
Diagnostic basé sur les cellules
Effectuez un diagnostic au niveau du transistor pour identifier les défauts des cellules standard. Cette fonctionnalité s'appuie sur le même modèle de défaut sensible aux cellules que celui utilisé pour l'ATPG sensible aux cellules et fonctionne quel que soit le type de schéma.
Diagnostic en chaîne en haute résolution
Améliorez le diagnostic de plus de 1,5 fois sur les nœuds de traitement avancés (5 nm et moins). Fournit une isolation précise au niveau du transistor en cas de défauts de la chaîne de numérisation. Garantit que les défauts ponctuels profonds peuvent être isolés avec précision.
Corréler avec l'analyse DFM
Les résultats du diagnostic peuvent être corrélés aux résultats de l'analyse DFM afin d'identifier les caractéristiques de conception critiques. Tessent Diagnosis peut lire les bases de données de résultats (RDB) depuis Calibre.
Une technologie fiable
Tessent Diagnosis est le leader du marché en matière de technologie de diagnostic par scanner avec le taux de précision le plus élevé. Plus de 80 % des rapports générés à l'aide de Tessent Diagnosis ont été confirmés à l'aide d'un processus d'analyse des défaillances.
Améliorations du diagnostic en chaîne grâce aux technologies Tessent
Jayant D'Souza, chef de produit senior chez Tessent, explique comment tirer parti de la technologie de diagnostic en chaîne haute résolution de Tessent pour améliorer le rendement et respecter les délais de commercialisation en détectant les défauts de manière plus systématique et en améliorant la résolution jusqu'à 80 %.

