Tessent LogicBist
Tessent LogicBist est la principale solution d'autotest intégrée du marché pour tester les composants logiques numériques des circuits intégrés. C'est une solution de test idéale pour les appareils critiques pour la sécurité tels que les circuits intégrés utilisés dans les applications automobiles et médicales.
Pourquoi Tessent LogicBist ?
Tessent LogicBist s'intègre efficacement à Tessent MissionMode et à Tessent TestKompress afin de créer une solution complète de test intégrée au système et à la fabrication pour les appareils critiques en matière de sécurité.
Améliore la couverture des tests
Conçue pour les applications hybrides TK/LBIST, la technologie de point de test Tessent VersaPoint améliore à la fois le nombre de modèles ATPG et la testabilité logique du BIST, améliorant ainsi la couverture LBIST de 2 % à 4 %.
Respecte les délais de test intégrés au système
En observant les données des circuits à chaque cycle de travail, et pas seulement lors de leur capture, la technologie d'observation (OST) réduit de manière significative le nombre de modèles nécessaires pour atteindre la couverture des tests logiques BIST cibles.
Améliore l'efficacité des tests
Tessent Hybrid TK/LBIST combine efficacement l'architecture logique de Tessent TestKompress et de LogicBist pour améliorer la qualité des tests tout en évitant toute pénalité de surface, profitant à la fois de la compression ATPG et de la logique BIST.
Infineon réduit la durée des tests LBIST à des fins de sécurité fonctionnelle
Dans cette présentation, Daniel Tille d'Infineon explique l'utilisation de LogicBist avec la technologie Observation Scan, dont il a été prouvé qu'elle réduit considérablement la durée des autotest intégrés à la logique (LBIST) pour les microcontrôleurs automobiles (microcontrôleurs) Infineon Automotive.
