Découvrez les solutions Tessent Silicon Lifecycle, de la conception pour la testabilité (DFT) à la surveillance en cours de vie pour des systèmes électroniques fiables, dans cette présentation Diamond faite par Ankur Gupta à l'ITC.
Découvrez comment améliorer l'observabilité du système en cours de vie grâce à la télémétrie de tension en temps réel et à la surveillance fonctionnelle.
Une solution conjointe qui associe la télémétrie physique intégrée du détecteur de chute Movellus Aeonic Insight™ aux solutions de surveillance fonctionnelle de Tessent Embedded Analytics. En reliant ces instruments via un déclenchement croisé matériel, le système offre une vue unique et chronologique de ce qui s'est passé et des raisons pour lesquelles il s'est passé, en corrélant directement des séquences d'instructions spécifiques ou l'activité du bus avec les événements physiques du PDN qui les ont provoqués.
En savoir plus sur l'impact de la latence à long terme et du débogage des serveurs. Découvrez les stratégies logicielles détaillées pour éviter les temps de latence et améliorer les performances.
