Tessent YieldInsight
Tessent YieldInsight analyse statistiquement les données de diagnostic pour identifier et séparer les limiteurs de rendement systématiques avant toute analyse de défaillance. Tessent YieldInsight est spécialisé dans la compréhension et l'identification de la perte de rendement à partir des données de test de numérisation et rend les résultats du diagnostic de volume exploitables.
Pourquoi Tessent YieldInsight ?
À l'aide de techniques spécialisées d'exploration de données et d'analyse statistique, Tessent YieldInsight élimine le bruit des données de diagnostic pour déterminer les causes profondes sous-jacentes, identifier les limiteurs de rendement systématiques et sélectionner les meilleurs appareils pour l'analyse des défaillances.
Identifier les limiteurs de rendement cachés
Tessent YieldInsight identifie la cause de la perte de rendement systématique et fournit des conseils tout au long du processus de sélection des matrices pour l'analyse des défaillances.
Supprimer le bruit des résultats de diagnostic
La technologie de déconvolution des causes profondes (RCD) élimine le bruit des résultats de diagnostic et détermine les causes profondes sous-jacentes. Il sélectionne et filtre les populations de moues défaillants, regroupant les moues qui échouent pour des raisons similaires.
Fonctionne avec Tessent Diagnosis
Analyse les résultats de diagnostic sensibles à la disposition et aux cellules de Tessent Diagnosis pour identifier et séparer les limiteurs de rendement systématiques avant toute analyse de défaillance, éliminant ainsi le besoin d'une localisation physique coûteuse.
Une nouvelle technologie de chaîne de balayage réversible
Organisé par ASM International, ce webinaire conjoint entre Siemens EDA et Qualcomm met en lumière :
- Motivation pour l'utilisation du diagnostic de chaîne dans la rampe de rendement
- Vue d'ensemble du diagnostic de la chaîne, chaîne réversible
- Technologie et diagnostic des chaînes réversibles
- Implémentation de chaînes réversibles
- Résultats de silicium provenant de la puce de test
