Tessent MemoryBIST fournit une solution complète pour le test rapide, le diagnostic, la réparation, le débogage et la caractérisation des mémoires embarquées. En tirant parti d'une architecture hiérarchique flexible, l'auto-test intégré et l'auto-réparation peuvent être intégrés dans les cœurs individuels ainsi qu'au niveau supérieur.
Tessent MemoryBIST, un autotest intégré de mémoire de pointe, comprend un flux d'automatisation unique et complet qui fournit la vérification des règles de conception, la planification des tests, l'intégration et la vérification, le tout au niveau RTL ou portail.
Tessent MemoryBIST ECC améliore la fiabilité, améliore la qualité des tests et protège contre les défauts de vieillissement. Ses critères de réussite et d'échec personnalisables permettent une combinaison optimale de redondance de la mémoire et de code correcteur d'erreurs.
Tessent MemoryBIST NVM offre des tests et des réparations flexibles, réduit les coûts des tests de fabrication et améliore la fiabilité. Les algorithmes automatisés spécifiques à la NVM permettent des modes d'accès spécialisés et fonctionnent avec l'option ECC. Disponible. début 26
Le BAP avancé fournit une interface configurable pour optimiser les tests dans le système. Il prend également en charge un protocole à faible latence pour configurer le contrôleur BIST mémoire, exécuter des tests Go/NoGo et surveiller l'état de réussite/échec.
Les algorithmes de test de mémoire peuvent être codés en dur dans le contrôleur Tessent MemoryBIST, puis appliqués à chaque mémoire via le contrôle de l'exécution. Cela vous permet de sélectionner des algorithmes de test plus courts à mesure que le processus de fabrication mûrit.
L'option de réparation Tessent MemoryBIST élimine les complexités et les coûts associés aux flux de réparation externes. Il teste et répare en permanence toutes les mémoires défectueuses dans une puce en utilisant pratiquement aucune ressource externe.
Regardez Etienne Racine, chef de produit Tessent, parler de la façon dont Tessent MemoryBIST peut aider à maximiser la qualité des tests, minimiser le temps de test, améliorer le rendement et réparer les mémoires grâce à son architecture flexible.
Découvrez comment l'utilisation du logiciel Tessent vous permet de vous aligner sur les normes et réglementations émergentes tout en offrant un ensemble complet de solutions de bout en bout pour répondre aux exigences des développements de CI automobiles d'aujourd'hui.
Cet article décrit les avantages de l'utilisation d'une architecture de bus partagé pour tester et réparer les mémoires dans les cœurs IP et présente l'automatisation disponible dans Tessent MemoryBIST.
Cette étude de cas décrit comment ON Semiconductor a utilisé le flux hiérarchique Tessent MemoryBIST pour réduire de 6X le temps d'insertion de la mémoire BIST.
