Tessent LogicBIST
Tessent LogicBIST est la solution d'autotest intégrée leader de l'industrie pour tester les composants logiques numériques des circuits intégrés. C'est une solution de test idéale pour les dispositifs critiques pour la sécurité tels que les circuits intégrés utilisés dans les applications automobiles et médicales.
Pourquoi Tessent LogicBIST ?
Tessent LogicBIST s'intègre efficacement à Tessent MissionMode et Tessent TestKompress pour créer une solution complète de test intégrée et de fabrication pour les appareils critiques pour la sécurité.
Améliore la couverture des tests
Conçu pour les applications hybrides TK/LBIST, la technologie de point de test VersaPoint de Tessent améliore le nombre de modèles ATPG et la testabilité logique BIST en même temps, améliorant la couverture LBIST de 2 % à 4 %.
Répond au temps de test intégré au système
En observant les données de circuit à chaque cycle de décalage, et pas seulement lors de la capture, la technologie OST (Observation Scan Technology) réduit considérablement le nombre de motifs nécessaires pour atteindre la couverture de test BIST logique cible.
Augmente l'efficacité des tests
Tessent Hybrid TK/LBIST combine efficacement l'architecture logique de Tessent TestKompress et LogicBist pour améliorer la qualité des tests tout en évitant toute pénalité de surface, récoltant les avantages de la compression ATPG et du BIST logique.
Infineon réduit le temps de test LBIST à la sécurité fonctionnelle
Dans cette présentation, Daniel Tille d'Infineon montre l'utilisation de LogicBist avec la technologie Observation Scan, qui a fait ses preuves pour réduire considérablement le temps de test d'autotest intégré logique (LBIST) pour les microcontrôleurs (MCU) Infineon Automotive.
