Des tests et une surveillance continus des appareils sont nécessaires pour garantir des performances optimales, une fiabilité et une sécurité tout au long de leur fonctionnement. Tessent In-System Test permet l'application de modèles de test déterministes de haute qualité pour les tests sur le système/sur le terrain pendant le cycle de vie de votre puce.
Tessent In-System Test fournit le matériel embarqué et les logiciels nécessaires pour permettre l'application de modèles de test déterministes de haute qualité tout en réduisant le temps de test par rapport au BIST logique traditionnel.
Le test déterministe intégré au système vous permet de modifier les modèles de test à mesure que de nouveaux défauts et modèles de défauts apparaissent ou que les besoins du contenu du test changent.
Le contrôleur de test intégré au système collecte les données des interfaces de bus, conduisant le réseau de bus Streaming Scan Network en interne pour appliquer les paquets de données de balayage aux cœurs pour les tests, réduisant le temps de test et améliorant le profil de puissance pendant le test.
Réutilise l'infrastructure de test sur puce existante pour cibler les défauts latents, intermittents, aléatoires ou liés à l'âge pendant la durée de vie du produit en permettant la réutilisation de modèles basés sur IJTAG et SSN pour les applications dans le système.
Fournit des capacités matérielles et logicielles entièrement automatisées nécessaires pour répondre au vieillissement et aux facteurs environnementaux qui se manifestent par des erreurs de données/corruption silencieuses. Le contenu du Test peut être modifié au fur et à mesure que les exigences du test évoluent.
Lancé à l'ITC 2024, Tessent In-System Test (IST) complète Tessent Streaming Scan Network (SSN) et améliore sa capacité à être utilisé dans un environnement in-système, sur le terrain, étendant ainsi la technologie de pointe que Tessent SSN fournit. Les concepteurs peuvent appliquer des modèles de test déterministe (EDT) intégrés générés à l'aide du logiciel SSN Tessent via le bus SSN directement à l'aide du contrôleur de test intégré.
Tessent In-System Test intègre le test déterministe intégré au système (IS-EDT) avec Tessent Streaming Scan Network pour permettre aux utilisateurs d'exécuter des modèles déterministes dans le système. Bien que la demande de modèles IS-EDT soit critique dans l'industrie automobile, cette technologie profite également aux conceptions de centres de données et de réseaux. Cet article décrit comment Tessent In-System Test répond aux besoins en matière de tests sur le système et sur le terrain.
Découvrez comment l'utilisation du logiciel Tessent vous permet de vous aligner sur les normes et réglementations émergentes tout en offrant un ensemble complet de solutions de bout en bout pour répondre aux exigences des développements de CI automobiles d'aujourd'hui.
Découvrez-en plus sur le rôle croissant de l'innovation en matière de conception de circuits intégrés (CI) dans la transformation numérique dans ce livre blanc.
