Solutions de Test Tessent

Tessent AnalogTest réduit le développement et la vérification des modèles de test analogiques des mois d'ingénierie aux heures d'ingénierie. C'est le moyen le plus efficace de maximiser la couverture des défauts tout en réduisant le coût des tests.

Tessent In-System Test fournit le matériel embarqué et les logiciels nécessaires pour permettre l'application de modèles de test déterministes de haute qualité tout en réduisant le temps de test par rapport au BIST logique traditionnel.

Fournir le test de balayage déterministe de la plus haute qualité avec le coût de test de fabrication le plus bas, en utilisant la compression brevetée sur puce pour réduire le volume de données de test et réduire le temps de test.

Automatisez la génération et l'insertion de matériel conforme à la norme IEEE 1838 et définissez l'architecture d'accès aux tests IEEE pour les circuits intégrés empilés 3D.

Réduisez le temps de développement du DFT et les coûts des tests de fabrication en découplant les exigences DFT au niveau du centre et de la puce avec Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Activez l'automatisation complète et l'intégration des tests, réparations, débogage et caractérisation des mémoires embarquées avec Tessent MemoryBIST.

Activez la conformité ISO 26262 avec la solution d'auto-test logique intégrée idéale pour les dispositifs critiques pour la sécurité tels que les CI utilisés dans les applications automobiles et médicales.

Combinez l'automatisation et la propriété intellectuelle sur puce pour permettre le test et le diagnostic du circuit intégré à tout moment pendant le fonctionnement d'un véhicule — une exigence fondamentale de la norme ISO 26262.

Réduisez les efforts de mise en œuvre du DFT grâce à une automatisation optimale du flux de la Tessent Platform pour les DFT hiérarchiques.

Améliorez les niveaux de compression des tests jusqu'à 4X, activez la DFT hiérarchique, la préparation logique au BIST et l'insertion de numérisation avec Tessent ScanPro.

Rationalisez un large éventail de tâches DFT critiques avec ce nouveau logiciel développé pour les équipes de conception de CI.

Simplifiez le processus de génération d'ensembles de tests compacts à couverture élevée. La capacité de Tessent FastScan à être appliqué à la plupart des types de conception en fait la solution ATPG la plus polyvalente disponible.

Fournir l'automatisation et l'intégration pour les tests et l'instrumentation IP conformes IEEE 1687 IJTAG à partir de diverses sources dans une conception de CI.

Automatisez l'ajout de la prise en charge de l'analyse des limites standard IEEE 1149.1 aux CI de toute taille ou complexité, ce qui réduit les efforts de développement et améliore les délais de mise sur le marché.

Simuler les défauts au niveau des transistors pour les circuits analogiques, mixtes et numériques sans balayage, automatiser l'évaluation de la couverture pour aider à respecter les normes de qualité telles que ISO 26262.