La suite de produits Tessent Test Solutions fournit des applications complètes de test et d'exploitation du silicium ainsi que des applications IP qui répondent aux défis liés aux tests de fabrication, au débogage et à la rampe de rendement pour les SOC les plus complexes d'aujourd'hui.
Il est essentiel d'assurer la qualité des produits. Chez Tessent, nous donnons une image plus claire grâce à nos solutions DFT avancées. Fournir des solutions de test plus intelligentes et plus rapides qui stimulent l'innovation.
Tessent Streaming Scan Network (SSN) remporte le prix de Siemens Innovateur de l'année 2022 dans la reconnaissance de l'invention exceptionnelle. Le SSN permet aux concepteurs de puces de mettre en œuvre facilement l'architecture de test du silicium qui réduit considérablement le temps et les coûts des essais du silicium. Visionnez la vidéo pour en savoir plus.
Le Tessent Streaming Scan Network (SSN) la technologie élimine les compromis difficiles et coûteux entre l'effort de mise en œuvre des essais et le coût des essais de fabrication en découplant les exigences de DFT au niveau du centre et de la puce.
Accédez aux présentations ITC des technologues, clients et partenaires de Tessent à partir de cette page. En plus de ses ateliers et tutoriels connexes, l'ITC est le meilleur endroit pour découvrir de nouvelles technologies pour le DFT, les tests de CI, l'apprentissage du rendement et la surveillance et l'analyse dans la vie.
Le rôle de l'IA et de l'apprentissage automatique dans les tests ne cesse de croître, ce qui permet d'économiser beaucoup de temps et d'argent qui dépassent souvent les attentes initiales. Mais cela ne fonctionne pas dans tous les cas, parfois même perturbant les flux de processus bien éprouvés avec un retour sur investissement douteux. Pour en savoir plus, consultez cet article sur l'ingénierie des semi-conducteurs.
Construit sur la base des meilleures solutions de sa catégorie pour chaque discipline de test, le produit de test logique et mémoire de Tessent rassemble toutes les capacités dans un flux de test puissant qui garantit une couverture totale de la puce.
