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Événements Tessent

Tessent répond aux défis critiques des dispositifs semi-conducteurs d'aujourd'hui avec une technologie de pointe pour la conception pour l'essai, les opérations et la surveillance en cours de vie.

Le meilleur de Tessent de l'ITC

Accédez aux présentations ITC des technologues, clients et partenaires de Tessent à partir de cette page. En plus de ses ateliers et tutoriels associés, l'ITC est le meilleur endroit pour découvrir de nouvelles technologies pour le DFT, les tests IC, l'apprentissage des rendements et la surveillance et l'analyse dans la vie.

Voir le contenu de Tessent ITC
Personne debout devant un écran abstrait vibrant avec des formes géométriques aux couleurs vives et dynamiques.

Webinaires à la demande

Image de la carte de l'événement - Webinaire Tessent AnalogTest à la demande
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Tessent AnalogTest - Génération automatisée de tests

Découvrez comment les tests de balayage numérique et l'ATPG peuvent être appliqués aux circuits A/MS, pour obtenir une couverture élevée des défauts et minimiser le temps de test, par ordre de grandeur.

Une image promotionnelle pour un webinaire à la demande avec une carte bleue et blanche avec le titre et la date du webinaire.
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Booster le débogage et l'analyse SoC avec un logiciel intégré

Découvrez comment un logiciel embarqué, fonctionnant sur du silicium cible, peut fournir une alternative supérieure à l'extraction de plus d'informations à partir de moniteurs et de structures de débogage sur puce pour l'analyse et l'optimisation.

Une image d'une carte d'événement de webinaire avec la silhouette d'une personne et un titre « Webinaire à la demande ».
Webinaire à la demande
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Méthodes DFT pour un délai de mise sur le marché rapide avec Tessent SSN

Ce webinaire présente le Tessent Streaming Scan Network (SSN), une solution DFT qui simplifie et accélère considérablement la planification et la mise en œuvre du DFT grâce à des méthodes d'automatisation et de plug-&play pour accélérer la mise sur le marché.

Une personne travaille sur un ordinateur avec une puce devant elle.
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Suppression du risque de RISC-V à l'aide de la norme de traçage RISC-V

Peter Shields, chef de produit, Tessent, donne un aperçu d'expert sur la norme de traçage RISC-V et montre comment la mise en œuvre de la norme aide à réduire les risques liés à l'adoption de RISC-V.

Carte promotionnelle du webinaire Tessent Multi-die avec design bleu et blanc et logo centré
Webinaire à la demande
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DFT pour la conception 2.5/3D à l'aide du logiciel Tessent Multi-die

Ne manquez pas ce webinaire, présentant et démontrant le nouveau logiciel Tessent Multi-die qui offre une automatisation complète pour les tâches DFT très complexes associées aux dernières conceptions de CI 2.5D et 3D.

Voiture dans un paysage numérique éthereal.
Webinaire sur demande
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Relever les défis de la norme ISO 26262 avec Tessent Test

Apprenez comment relever les défis que les systèmes ADAS critiques pour la sécurité présentent aux concepteurs de semi-conducteurs pour répondre aux exigences de sécurité fonctionnelle définies par la norme ISO 26262.

Homme utilisant un tableau de débogage SoC
Webinaire
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Confléchir la courbe du calendrier avec Tessent SiliconInsight

Participez à ce webinaire pour apprendre comment Tessent SiliconInsight résout les défis de l'augmentation du silicium pour améliorer la rampe de rendement et le délai de mise sur le marché.

Homme utilisant un tableau de débogage SoC
Webinaire à la demande
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Surmontez les barrières de rendement avec PDF Solutions et Siemens

Regardez ce webinaire à la demande par les technologues de Siemens et de PDF Solutions pour en savoir plus sur notre solution intégrée et complète de bout en bout qui comprend l'analyse, le diagnostic par balayage et l'apprentissage automatique.

Une diapositive de présentation du webinaire avec la silhouette d'une personne et un titre « DFT Webinar » au centre.
Webinaire à la demande
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Architecture DFT plus intelligente pour les SoC avancés

De nouvelles méthodes et outils pour SoC DFT peuvent simplifier les problèmes introduits par la technologie, la conception et la mise à l'échelle du système. Apprenez comment réduire les risques et améliorer le délai de mise sur le marché avec une solution DFT plus prévisible et fiable.

Titre du webinaire et logos des organisations d'animateur et de présentateur.
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Sécurisation des véhicules connectés et autonomes

Regardez ce webinaire à tout moment sur le fait de relever efficacement le défi de sécuriser les véhicules connectés et autonomes.

Titre du webinaire et photos des quatre conférenciers
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Construire des puces IA qui livrent

Table ronde du Sommet sur le matériel de l'IA

Écoutez les leaders du domaine discuter des défis techniques liés à la conception de puces d'IA. Gajinder Panesar, boursier Siemens, parle de la valeur d'Embedded Analytics pour aider les puces IA et ML à atteindre leur potentiel.

Image des couches de conception IC
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Surveillance des performances paramétriques et logiques

Présenté par ProteanTecs et Siemens

Optimisez les performances du SoC et effectuez une maintenance prédictive sur le terrain. Une approche de surveillance approfondie des données offre des améliorations radicales en matière de délai de génération de revenus, de qualité des produits, de fiabilité et de sécurité, et de rentabilité.

Dartboard avec des Fleches dans l'œil de la bullseye
Webinaire à la demande
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Webinaire sur la chaîne de numérisation réversible

Regardez ce webinaire à la demande pour en savoir plus sur la technologie des chaînes de balayage réversibles et comment elle a amélioré la résolution de diagnostic par 4X dans une étude de cas industrielle.