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Vue d'ensemble

Calibre Defect Management

Les solutions de Calibre Defect Management offrent une analyse et une réduction des défauts de wafers et de masques guidés par la conception à flux complet pour améliorer le débit et accélérer la rampe de rendement. Nos outils interagissent avec les outils d'inspection et effectuent une caractérisation précise des défauts, une analyse des causes profondes et une vérification des correctifs.


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Tirez parti de plusieurs plateformes de conception à fabrication

Les solutions Calibre Defect Management effectuent un regroupement de défauts basé sur l'appariement de modèles et exploitent DRC/LVS pour les attributs de conception basés sur l'emplacement des défauts et l'analyse de criticité nette. L'intégration transparente avec les outils de conception facilite le lien direct entre la conception physique et l'inspection des défauts.

Efficace et convivial

Ssonde croisée pour l'analyse de conception

L'interface graphique Calibre Defect Management intègre diverses fonctionnalités d'analyse de conception Calibre et fournit différentes fonctionnalités d'analyse guidée par la conception basée sur les défauts afin que les utilisateurs puissent facilement identifier et corriger la cause première des défauts.

Une image promotionnelle montrant un regroupement de défauts basé sur des motifs avec une représentation visuelle des défauts groupés.
Intelligent et systématique

Sélection descendante de l'inspection BFI à l'analyse SEM

Calibre Defect Management fournit des applications d'échantillonnage en cas de panne en intégrant les techniques Calibre SONR, une méthodologie de classement et de prédiction basée sur l'apprentissage automatique, pour améliorer le taux de détection des défauts et mettre en évidence des modèles systématiques avec un budget d'échantillonnage limité pour l'examen SEM.

Interface logicielle Calibre mettant en évidence la gestion des défauts avec une conception visuelle propre et professionnelle
Précis et précis

Analyse des défauts basée sur l'image SEM

La capacité de traitement d'image SEM de Calibre Defect Management permet un ancrage précis entre l'emplacement du défaut sur le masque/wafer et l'emplacement du défaut sur la disposition. Des techniques telles que l'alignement SEM-to-layout, l'extraction des contours et la classification automatique des défauts basée sur SEM sont utilisées pour assurer l'analyse précise des défauts.

Interface logicielle Calibre montrant un professionnel gérant les défauts logiciels sur un écran d'ordinateur

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Services de conseil Calibre

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