Tessent AnalogTest
Tessent AnalogTest vähentää analogisten testikuvioiden kehittämistä ja todentamista suunnittelukuukausista suunnittelutunneihin. Ainoana kaupallisena ratkaisuna, joka on tällä hetkellä saatavilla, se on tehokkain tapa maksimoida vikojen kattavuus ja vähentää testikustannuksia.
Miksi Tessent AnalogTest?
Analogisten piirien testaaminen on perinteisesti ollut työläs, manuaalinen prosessi. Tessent AnalogTest mahdollistaa pii-analogien testiajan 10x-100x lyhentämisen perinteisiin spesifikaatiotesteihin verrattuna.
Vähennä testikustannuksia
Analoginen testaus vaatii pitkiä testiaikoja kalliilla sekasignaalitestaajilla. Tessent AnalogTest tuottaa minimaalisen vaikutuksen DFT-piirit ja digitaaliset testikuviot analogisen piirilohkon testaamiseksi <1 ms: ssä vain digitaalisilla testaajilla.
Lisää suunnittelutehokkuutta
Tessent AnalogTest muuntaa analogisen DFT:n ja testikehityksen nopeaksi, automatisoiduksi prosessiksi. Rakenne- ja spesifikaatiotestit tarkistetaan simulaatiossa ennen niiden suorittamista ATE: llä tai järjestelmässä, mikä lyhentää virheenkorjausaikaa.
Maksimoi analogisen testin kattavuus
Analogisten piirien spesifikaatiotesteillä voi olla pienempi testipeitto tuottohäviön minimoimiseksi. Digitaalinen skannauspohjainen DFT ja ATPG voivat tarjota simuloituja testimalleja, jotka saavuttavat suuremman vikojen kattavuuden lisäämättä tuottohäviötä.
Lyhennä markkinoille tuloaikaa Tessent AnalogTest -kattavuuden avulla
Ota selvää, miten voit minimoida analogisten ja sekasignaalipiirien valmistustestit ja parantaa tuotteen markkinoille tuloaikaa Tessent AnalogTestin avulla.