Skip to main content
Seda lehte kuvatakse automaatse tõlke abil. Vaata hoopis inglise keeles?

Miks Simcenter Micred T3STER?

Simcenter Micred T3STER on täiustatud mittehävitav mööduv termiline tester pakendatud pooljuhtseadmete (dioodid, BJT-d, võimsusMOSFETid, IGBT-d, võimsusLED) ja mitme stantsiga seadmete termiliseks iseloomustamiseks. See mõõdab tõelist termilist mööduvat reaktsiooni tõhusamalt kui püsiseisundi meetodid. Mõõtmised on ± 0,01° C kuni 1 mikrosekundilise ajaeraldusvõimega. Struktuur toimib pärast reaktsiooni töötlemist graafikuks, mis näitab pakendi omaduste soojustakistust ja mahtuvust soojusvoolu teel. Simcenter Micred T3STER on ideaalne stressieelsete ja järgsete rikete tuvastamise tööriist. Mõõtmisi saab eksportida termilise mudeli kalibreerimiseks, toetades termilise projekteerimise jõupingutuse täpsust.

Võimaldage kiiremad tulemused vaid ühe testigaSimcenter Micred T3STER on lihtne kasutada ja kiire. See annab täielikult reprodutseeritavad tulemused, nii et iga katse tuleb läbi viia ainult üks kord. Simcenter Micred T3STER testib pakendatud IC-sid, kasutades toiteks ja tuvastamiseks ainult elektriühendusi, andes kiireid ja korratavaid tulemusi ning välistades vajaduse mitme testi järele samal osal. Komponente saab testida kohapeal ja katsetulemusi saab kasutada kompaktse termilise mudelina või üksikasjaliku mudeli kalibreerimiseks.

Katsetage igat tüüpi pakendatud pooljuhtePraktiliselt saab testida igat tüüpi pakendatud pooljuhte, alates võimsusdioodidest ja transistoritest kuni suurte ja väga keerukate digitaalsete IC-deni, sealhulgas osad, mis on paigaldatud tahvlile ja isegi pakendatud tootele.

Lihtsamalt öeldes süstitakse komponenti võimsusimpulss ja selle temperatuurireaktsioon registreeritakse aja suhtes väga täpselt. Pooljuhti ennast kasutatakse nii osa toiteks kui ka temperatuurireaktsiooni tajumiseks, kasutades stantsipinnal olevat temperatuuritundlikku parameetrit, näiteks transistori või dioodistruktuuri.

Juurdepääs usaldusväärsele tarkvaraleSimcenter Micred T3STERiga kaasas olev tarkvara pakub palju lahenduse väärtust. Selle põhjuseks on asjaolu, et tarkvara Simcenter Micred T3STER suudab jälgida temperatuuri ja aja jälgimist ja muuta selle nn struktuurifunktsiooniks. Selles graafikus saab tuvastada pakendi diskreetseid omadusi, näiteks stantsikinnitust, muutes Simcenter Micred T3STERi suurepäraseks diagnostikavahendiks tootearenduses. Graafikut saab kasutada ka üksikasjaliku 3D-termilise mudeli kalibreerimiseks Simcenter Flothermis, luues kiibipaketi termilise mudeli, mis ennustab temperatuuri nii ruumis kui ajas 99+% täpsusega.

Saavutage elektroonika jahutussimulatsioonis suurem täpsus mõõtmise ja kalibreerimise abil

Selles dokumendis võetakse arvesse simulatsiooni käigus jälgimise ja ühenduse soojuse hajumise modelleerimise suurema täpsuse tegureid. See illustreerib IGBT mooduli termilist mõõtmist Simcenter T3STERi abil ja mudeli kalibreerimist koos termilise simulatsiooniga Simcenter Flothermis.

Simcenter T3STER võimalused

Termiline testimine

Termilise iseloomustamise riistvaralahenduste perekond pakub komponentide ja süsteemide tarnijatele võimalust täpselt ja tõhusalt testida, mõõta ja termiliselt iseloomustada pooljuhtide integraallülituspakette, ühe- ja massiivseid LED-e, virnastatud ja mitmekülgseid pakette, jõuelektroonika mooduleid, soojusliidese materjali (TIM) omadusi ja täielikke elektroonilisi süsteeme.

Meie riistvaralahendused mõõdavad otseselt pakendatud pooljuhtseadmete tegelikke kütte- või jahutuskõveraid pidevalt ja reaalajas, selle asemel et seda kunstlikult koostada mitme individuaalse testi tulemustest. Tõelise termilise mööduva reaktsiooni mõõtmine sel viisil on palju tõhusam ja täpsem, mis toob kaasa täpsemate termiliste mõõdikute kui püsiseisundi meetodid. Mõõtmisi tuleb teha ainult üks kord proovi kohta, mitte korrata ja keskmist võtta nagu püsiseisundi meetodite puhul.

Loe lähemalt termilise testimise kohta

Vaata veebiseminari

A visual of the Simcenter Micred Powertester hardware.
Valge paber

Kompleksse elektroonika termiline iseloomustus

Lugege seda valget raamatut ja tutvuge termilise mööduva mõõtmise rolli pooljuhtide termilise käitumise iseloomustamisel.

Töötlemiskiip, mis on ühendatud ringplaadiga