Tessent YieldInsight
Tessent YieldInsight analüüsib statistiliselt diagnoosiandmeid, et tuvastada ja eraldada süstemaatilised saagikuse piirajad enne ebaõnnestumise analüüsi tegemist. Tessent YieldInsight on spetsialiseerunud skaneerimistesti andmete saagikadu mõistmisele ja tuvastamisele ning muudab mahu diagnoosimise tulemused teostatavaks.
Miks Tessent YieldInsight?
Kasutades spetsiaalseid andmekaevandamise ja statistilise analüüsi tehnikaid, kõrvaldab Tessent YieldInsight diagnoosiandmetest müra, et teha kindlaks algpõhjused, tuvastada süstemaatilised saagikuse piirajad ja valida rikete analüüsiks parimad seadmed.
Tuvastage varjatud saagikuse piira
Tessent YieldInsight tuvastab süstemaatilise saagikakadu põhjuse ja annab juhiseid ebaõnnestumise analüüsiks stantsi valimise protsessis.
Eemaldage diagnoosi tulemustest müra
Põhjuse dekonvolutsiooni (RCD) tehnoloogia eemaldab diagnoosimistulemustest müra ja määrab kindlaks algpõhjused. See valib ja filtreerib ebaõnnestunud surmade populatsioonid, rühmitades sarnastel põhjustel ebaõnnestunud surnid.
Töötab Tessent Diagnosis
Analüüsib Tessent Diagnosis Diagnoosi paigutusteadlikke ja rakkuteadlikke diagnoosi tulemusi, et tuvastada ja eraldada süstemaatilised saagikuse piirajad enne ebaõnnestumise analüüsi tegemist, välistades vajaduse kuluka füüsilise lokaliseerimise järele.
Uudne pöörduva skaneerimisahela tehnoloogia
ASM International korraldab see Siemens EDA ja Qualcommi prožektorite ühine veebiseminar:
- Motivatsioon ahela diagnoosimise kasutamiseks saagikusrambil
- Ülevaade ahela diagnoosist, pöörduvast ahelast
- Pöörduva ahela tehnoloogia ja diagnoos
- Pöörduvate ahelate rakendamine
- Testkiibi räni tulemused
