Tessent Diagnosis
Kasutades tootmistesti tõrkeandmeid, skannimistestide mustreid ja disainiteavet, tuvastab Tessent Diagnosis rikke põhjustanud defekti asukoha ja klassifikatsiooni.
Miks Tessent Diagnosis?
Tessent Diagnosis lahendus tuvastab defektide tüübi ja asukoha, luues aluse diagnoosipõhise saagikuse ja tõrkeanalüüsi jaoks.
Tuvastage täpselt defektid ja ajastusvead
Kasutage paigutusteadlikku ja rakkuteadlikku tehnoloogiat, et määrata defekti kõige tõenäolisem rikkemehhanism, loogika asukoht ja füüsiline asukoht.
Rakuteadlik diagnoos
Standardrakkude defektide tuvastamiseks tehke transistori taseme diagnoos. See võime kasutab sama rakuteadlikku veamudelit, mida kasutatakse rakuteadliku ATPG jaoks, ja töötab mis tahes mustritüübiga.
Kõrge eraldusvõimega ahela diagnoos
Parandage diagnoosimist arenenud protsessisõlmedel (5 nm ja alla) > 1,5 korda. Tagab skaneerimisahela defektide jaoks täpse transistoritaseme isolatsiooni. Tagab sügavate punktide defektide täpsuse eraldamise.
Korreleeruvad DFM-analüüsiga
Diagnoosi tulemusi saab korreleerida DFM-i analüüsi tulemustega, et tuvastada kriitilised disaini omadused. Tessent Diagnosis suudab lugeda Calibre'ist tulemuste andmebaase (RDB).
Usaldusväärne tehnoloogia
Tessent Diagnosis on kõrgeima täpsusega skaneerimise diagnoosimise tehnoloogia turuliider. Enam kui 80% Tessent Diagnoosi abil koostatud aruannetest on kinnitatud ebaõnnestumise analüüsi protsessi abil.
Ahela diagnoosimise täiustamine Tessenti tehnoloogiatega
Tessenti vanemtootejuht Jayant D'Souza räägib Tessenti kõrge eraldusvõimega ahela diagnoosimise tehnoloogia kasutamisest, et suurendada tootlikkust, et saavutada aega turustamiseks, leides süstemaatilisemaid defekte ja parandades eraldusvõimet kuni 80% võrra.
