Tessent MemoryBist pakub täielikku lahendust sisseehitatud mälude kiiruse testimiseks, diagnoosimiseks, parandamiseks, silumiseks ja iseloomustamiseks. Kasutades paindlikku hierarhilist arhitektuuri, saab sisseehitatud enesekontrolli ja eneseremondi integreerida nii üksikutesse südamikesse kui ka tipptasemel.
Tessent MemoryBist, valdkonna juhtiv mälu sisseehitatud enesekontroll, sisaldab ainulaadselt terviklikku automatiseerimisvoogu, mis pakub disainireeglite kontrollimist, testide planeerimist, integreerimist ja kontrollimist kõik RTL-i või värava tasemel.
Tessent MemoryBist ECC suurendab töökindlust, parandab testi kvaliteeti ja kaitseb vananemisdefektide eest. Selle kohandatavad läbipääsu/ebaõnnestumise kriteeriumid võimaldavad optimaalset kombinatsiooni mälu koondumise ja vigade parandamise koodi.
Tessent MemoryBist NVM pakub paindlikku testimist ja remonti, vähendab tootmiskatsete kulusid ja suurendab töökindlust. Automatiseeritud NVM-spetsiifilised algoritmid võimaldavad spetsiaalseid juurdepääsurežiime ja töötavad ECC valikuga. Saadaval 26. alguses
Täiustatud BAP pakub konfigureeritavat liidest süsteemisisese testimise optimeerimiseks. Samuti toetab see madala latentsusega protokolli mälu BIST-kontrolleri konfigureerimiseks, Go/NoGo testide täitmiseks ja pääsu/ebaõnnestumise oleku jälgimiseks.
Mälutesti algoritme saab kõvasti kodeerida Tessent MemoryBist kontrollerisse, seejärel rakendada igale mälule käitusaja juhtimise kaudu. See võimaldab teil tootmisprotsessi küpsemisel valida lühemaid testimisalgoritme.
Tessent MemoryBist remondivõimalus kõrvaldab väliste remondivoogudega seotud keerukused ja kulud. See testib ja parandab püsivalt kõiki kiibi defektseid mälesid, kasutades praktiliselt väliseid ressursse.
Vaadake, kuidas Tessenti tootejuht Etienne Racine räägib sellest, kuidas Tessent MemoryBist aitab oma paindliku arhitektuuriga testikvaliteeti maksimeerida, testiaega minimeerida, saagikust parandada ja mälu parandada.
Siit saate teada, kuidas Tessenti tarkvara kasutamine võimaldab teil kooskõlla tulla uute standardite ja eeskirjadega, pakkudes samal ajal täielikku komplekti lahendusi tänapäeva autotööstuse IC-arenduste nõuetele vastamiseks.
Selles artiklis kirjeldatakse jagatud siiniarhitektuuri kasutamise eeliseid mälude testimiseks ja parandamiseks iPS-tuumades ning esitatakse Tessent MemoryBistis saadaolevat automatiseerimist.
Selles juhtumiuuringus kirjeldatakse, kuidas ON Semiconductor kasutas hierarhilist Tessent MemoryBist voogu, et vähendada mälu BIST sisestamise aega 6X võrra.
