Miks Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist integreerub tõhusalt Tessent MissionMode ja Tessent TestKompress TestKompressiga, et luua terviklik süsteemi- ja tootmiskatselahendus ohutuskriitiliste seadmete jaoks.
Parandab testi katvust
Tessent VersaPointi testimispunkti tehnoloogia, mis on loodud hübriidsete TK/LBIST rakenduste jaoks, parandab samal ajal ATPG mustrite arvu ja loogikat BIST testitavust, parandades LBIST katvust 2% -4%.
Vastab süsteemisisesele testimisajale
Jälgides vooluringi andmeid igal vahetustsüklis, mitte ainult jäädvustamisel, vähendab vaatlusskaneerimise tehnoloogia (OST) oluliselt mustrite arvu, mis on vajalik sihtloogika BIST testi katvuse saavutamiseks.
Suurendab testi efektiivsust
Tessent Hybrid TK/LBIST ühendab tõhusalt Tessent TestKompress TestKompressi ja LogicBisti loogikaarhitektuuri, et parandada testi kvaliteeti, vältides samal ajal pindalatahtusi, kasutades ära nii ATPG tihendamise kui ka loogika BIST eeliseid.
Infineon vähendab LBIST testiaega funktsionaalse ohutuse saavutamiseks
Selles esitluses näitab Daniel Tille Infineonist LogicBisti kasutamist vaatlusskaneerimise tehnoloogiaga, mis on tõestatud, et see vähendab drastiliselt Infineon Automotive mikrokontrollerite (MCU) loogika sisseehitatud enesekontrolli (LBIST) testimisaega.

