Tessent tooted

Tessent AnalogTest vähendab analoogkatsemustri väljatöötamist ja kontrollimist insenerikuudest inseneritundideni. See on kõige tõhusam viis defektide katvuse maksimeerimiseks, vähendades samal ajal testikulusid.

Tessent In-System Test pakub sisseehitatud riistvara ja vajalikku tarkvara, et võimaldada rakendada kvaliteetseid deterministlikke testimismustreid, vähendades samal ajal testiaega võrreldes traditsioonilise loogika BIST -ga.

Pakkuge kõrgeima kvaliteediga deterministlikku skaneerimistesti madalaima tootmiskatse maksumusega, kasutades patenteeritud kiibil tihendamist, et vähendada testiandmete mahtu ja katseaega lühendada.

Automatiseerige IEEE 1838-ga ühilduva riistvara genereerimine ja sisestamine ning määratlege 3D-virnastatud integraallülituste IEEE testijuurdepääsuarhitektuur.

Vähendage DFT arendusaega ja tootmistesti kulusid, lahutades südamiku taseme ja kiibitaseme DFT-nõuded Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Võimaldage sisseehitatud mälude testimise, parandamise, silumise ja iseloomustamise igakülgset automatiseerimist ja integreerimist Tessent MemoryBIST.

Võimaldab ISO 26262 vastavust ideaalse loogika sisseehitatud enesekontrolli lahendusele ohutuskriitiliste seadmete, näiteks autotööstuses ja meditsiinirakendustes kasutatavate IC-de jaoks.

Ühendage automatiseerimine ja kiibil olev IP, et võimaldada IC-testi ja diagnoosimist sõiduki funktsionaalse töö igal hetkel — see on ISO 26262 standardi põhiline nõue.

Vähendage DFT rakendamise jõupingutusi optimaalse automatiseerimisega Tessent Platform hierarhilise DFT voog.

Parandage testi tihendamise taset kuni 4X, võimaldage hierarhilist DFT, loogika BIST valmisolekut ja skannimise sisestamist Tessent ScanPro.

Selle uue IC-disainimeeskondade jaoks välja töötatud tarkvara abil saate lihtsustada laia valikut kriitilisi DFT-ülesandeid.

Lihtsustage suure katvusega kompaktsete testikomplektide genereerimise protsessi. Võimalus Tessent FastScan enamiku igat tüüpi disainilahenduste jaoks rakendatav muudab selle kõige mitmekülgsema ATPG lahenduse.

Pakkuge automatiseerimist ja integreerimist IEEE 1687 IJTAG-iga ühilduva testi ja mõõteriistade IP jaoks erinevatest allikatest IC-disaini.

Automatiseerige IEEE 1149.1 standardse piiriskaneerimise toe lisamine mis tahes suuruse või keerukusega IC-dele, vähendades arendustegevust ja parandades turule jõudmise aega.

Simuleerige transistori taseme defekte analoog-, segasignaalidega ja skaneerimata digitaalahelate jaoks, automatiseerides katvuse hindamist, et aidata täita selliseid kvaliteedistandardeid nagu ISO 26262.

Rakendage paigutusteadlikke ja rakkuteadlikke diagnoositehnoloogiaid, et täpselt klassifitseerida ja tuvastada defektide asukoht, mis põhjustavad tootmistestide ajal rikkeid.

Kiirendada Tessent ATPG, EDT, BIST ja/või IJTAG teststruktuure sisaldavate seadmete testimist, silumist ja räni iseloomustamist automatiseeritud interaktiivses keskkonnas.

Kõrvaldage diagnoosiandmetest müra, et teha kindlaks algpõhjused, tuvastage süstemaatilised saagikuse piirajad ja valige rikete analüüsiks parimad seadmed.

Otsast lõpuni RISC-V silumise ja jälgimise lahendus, mis koosneb sisseehitatud IP-st ja tarkvarast, mis on loodud pakkuma terviklikke ja tõhusaid silu- ja jälgimisvõimalusi.

Kiirendage keerukate mitmetuumaliste SoC-de silumist, valideerimist ja optimeerimist. Kasutage sisseehitatud, mitte pealetükkivaid instrumente, et võimaldada jälgida disainis toimuvat, kui süsteemis töötab tarkvara.

Luba SoC-l töötaval rakendustarkvaral toiminguid tõhusalt jälgida. Võimaldage tooteid järjestikku täiustada ja optimeerida reaalses kasutuses kogutud andmete põhjal - mitte ainult laboris.

Tagage Tessenti lahendustega kõrgeim tootmistesti kvaliteet. Maksimeerige tuvastatud füüsiliste defektide arvu nulldefekti katselahenduses.

Vähendage riski ja täitke nõutavad ohutusstandardid põhjalike süsteemisiseste testide ja rikete klassifikatsiooni lahendustega, tagades, et teie toode vastab täielikult ohutuskriitilistele rakendustele, mille jaoks see on loodud.

Rakendage oma IC-tootele terviklik turvalahendus, käsitledes autentimist, sidet, kaitset ja seadme elutsükli haldamist katsetamise, funktsionaalse toimimise ja süsteemitasandi turvalisuse ulatuses.

Diagnoosige ja analüüsige üksikute klientide tagastuste või tootmismahu andmete rikke- ja tootmisandmeid. Hankige väärtuslikku disaini ja protsesside tagasisidet, et parandada tulevaste protsesside ja disainilahenduste usaldusväärsust