
Calibre EUV
Põhjalik tugi kõrge NA-ga EUV ainulaadsete väljakutsetega, nagu anamorfne optika ja maskide 3D-modelleerimine, et võtta arvesse varjutusefekte.
Rahuldamatu nõudlus integraallülituste (IC) järele suurendab jätkuvalt väiksemaid kriitilisi mõõtmeid. Fotoolitograafia protsessid, sealhulgas äärmuslik ultraviolett (EUV), pakuvad üha keerukamat ja andmemahtu. Meie arvutuslitograafia lahendused võimaldavad kulutõhusat tehnoloogiat võimaldada.
Nii litograafilised väljakutsed kui ka arenenud protsessisõlmedega seotud arvutuslik keerukus tekitavad vajaduse arvutusliku litograafia tarkvara ja riistvara täiustatud võimaluste järele. Calibre lahendus pakub oma klassi parimat täpsust, kiirust ja omamiskulusid.

Tihe optiline lähedus ja protsessi korrigeerimine sügava submikronite tootmise võimaldamiseks.
Sisestab kujundusse alameraldusvõime abivahendid (SRAF-id).
Võimas täiskiibi simulatsioon ja litograafiline analüüs.

GUI kasutatakse mitmesuguste rakenduste käivitamiseks ja tulemuste vaatamiseks.

Väga skaleeritav kalibreerimismootor optiliste, resistentsete ja söövitusmudelite jaoks.
Kiire, pöördpikslipõhine optiline läheduse korrigeerimine.
Lihtne kasutada GUI valgustusallika optimeerimiseks.