Ülevaade
Analog FastSPICE Platvorm
Foundry sertifitseeritud AFS-platvorm tagab nm SPICE'i täpsuse > 5 korda kiiremini kui traditsiooniline SPICE ja > 2x kiiremini kui paralleelsed SPICE-simulaatorid. Pakub kiireimat nm vooluahela kontrolliplatvormi analoog-, raadiosageduse, segasignaali- ja kohandatud digitaalahelate jaoks. Nüüd sisaldab uut eXtreme tehnoloogiat.
Võtke ühendust meie müügimeeskonnaga 1-800-547-3000

Analog FastSPICE Platvorm
Valuuri sertifitseeritud täpsusega annab AFS SPICE-i nanomeetri täpsuse > 5 korda kiiremini kui traditsiooniline SPICE ja > 2x kiiremini kui paralleelsed SPICE-simulaatorid. Suurte paigutusjärgsete ahelate jaoks tagab uus AFS eXtreme tehnoloogia üle 100 M elemendi mahutavuse ja >3 korda kiiremini kui paigutusjärgsed simulaatorid.
Kiireim nanomeetri täpsusega vooluahela simulatsioon
- Juhtiv
- ate valukodade poolt sertifitseeritud FinFET protsessile
- > 5 korda kiirem kui traditsiooniline SPICE > 2x kiirem kui paralle
- elne SPICE
- AFS eXtreme tehnoloogia, mis on saadaval ilma lisat asuta

Kiireim segasignaali simulatsioon
- Toetab kõiki juhtivaid digitaalseid lahendajaid O
- ma klassi parimat kasutatavust, võimaldades kontrolliinfrastruktuuri maksimaalset taaskasutamist Täiustatud kontrolli-
- ja silumisvõimalused kontrollimise katvuse parandamiseks

Kiireim variatsiooniteadlik disain ja kontrollimine
- Täiustatud disainikvaliteet ja turule jõudmise
- aeg SPIC
- E"i täpne, kõrge sigmaaga kontrolli mine
- > 1000x kiirem kui jõu simulatsioon Lihtne kasutada ja juurutada

Kas olete valmis täna kellegagi rääkima?
Seisame teie küsimustele vastamiseks.
Võtke ühendust meie müügimeeskonnaga 1-800-547-3000
Liituge IC disaini kogukonnaga
Liituge aruteluga uute teemade, funktsioonide, sisu ja tehniliste ekspertide üle.
Koolitus ja tugi
Juurdepääs üksikasjalikele kasutajarakenduse märkustele, koolitusressurssidele ja
EDA nõustamine
Aitame teil saavutada maksimaalset ettevõtlusmõju, tegeledes keerukate tehnoloogia- ja ettevõtete väljakutsetega ainulaadse segu arendus- ja disainikogemustest ning metoodikatest.