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vista lateral del chip a bordo con fondo azul
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

Lograr la prueba de escaneo determinista integrada de la más alta calidad con el menor costo de prueba de fabricación usando Tessent TestKompress.

Por qué Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress, una herramienta de prueba de escaneo líder en la industria, utiliza la tecnología Embedded Deterministic Test para lograr el nivel más alto de calidad de prueba mientras comprime los patrones de escaneo, a menudo 100 veces o más.

Cobertura de defectos más alta

TestKompress soporta todos los modelos de fallas tradicionales utilizados para descubrir defectos tanto estáticos como activados dinámicamente. El soporte para modelos de fallas definidos por el usuario también permite modelar y segmentar prácticamente cualquier mecanismo de defectos.

Totalmente automatizado

TestKompress ofrece automatización integral, scripting basado en TCL y capacidades de introspección. Para maximizar el rendimiento, la generación automática de patrones de prueba (ATPG) se puede distribuir en múltiples procesadores.

Menor tiempo de prueba y recuento de patrones

Basado en la tecnología patentada Embedded Deterministic Test (EDT) Tessent TestKompress reduce tanto el tiempo de prueba como el volumen del patrón en varios órdenes de magnitud sin ninguna pérdida en la cobertura de fallas.

Pregunta a un Experto - Hombre y mujer teniendo una consulta en una oficina.

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