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vista lateral del chip a bordo con fondo azul
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

Obtenga la prueba de escaneo determinista integrada de la más alta calidad con el costo de prueba de fabricación más bajo usando Tessent TestKompress.

¿Por qué Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress, una herramienta de Test de escaneo líder en la industria, utiliza la tecnología de prueba determinista integrada para lograr el más alto nivel de calidad de prueba mientras comprime patrones de escaneo a menudo 100X o más.

Cobertura de defectos más alta

TestKompress soporta todos los modelos de fallas tradicionales utilizados para descubrir defectos tanto estáticos como activados dinámicamente. El soporte para modelos de fallas definidos por el usuario también permite modelar y segmentar prácticamente cualquier mecanismo de defecto.

Totalmente automatizado

TestKompress ofrece automatización integral, scripting basado en TCL y capacidades de introspección. Para maximizar el rendimiento, la generación automática de patrones de prueba (ATPG) se puede distribuir a través de múltiples procesadores.

Menor tiempo de prueba y recuento de patrones

Construido sobre la tecnología patentada Embedded Deterministic Test (EDT), Tessent TestKompress reduce tanto el tiempo de prueba como el volumen del patrón en varios órdenes de magnitud sin ninguna pérdida en la cobertura de fallas.

Pregunte a un experto - Hombre y mujer que tienen una consulta en una oficina.

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