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chip grande a bordo con cobre y fondo verde
Tessent Advanced DFT

Tessent MemoryBist

Tessent MemoryBist proporciona una solución completa para pruebas rápidas, diagnóstico, reparación, depuración y caracterización de memorias integradas. Aprovechando una arquitectura jerárquica flexible, la autoprueba incorporada y la autorreparación pueden integrarse en núcleos individuales, así como en el nivel superior.

¿Por qué Tessent MemoryBist?

Tessent MemoryBist, una autoprueba integrada de memoria líder en la industria, incluye un flujo de automatización único y completo que proporciona verificación de reglas de diseño, planificación de pruebas, integración y verificación, todo a nivel RTL o puerta.

Reparación de memoria basada en ECC

Tessent MemoryBist ECC mejora la confiabilidad, mejora la calidad de las pruebas y protege contra defectos de envejecimiento. Sus criterios personalizables de pasa/falla permiten una combinación óptima de redundancia de memoria y código de corrección de errores.

Aplicación de memoria no volátil

Tessent MemoryBist NVM proporciona pruebas y reparaciones flexibles, disminuye los costos de las pruebas de fabricación y mejora la confiabilidad. Los algoritmos automatizados específicos de NVM permiten modos de acceso especializados y funcionan con la opción ECC. Disponible. A principios de 26

Puerto de acceso BIST avanzado

El BAP avanzado proporciona una interfaz configurable para optimizar las pruebas en el sistema. También es compatible con un protocolo de baja latencia para configurar el controlador BIST de memoria, ejecutar pruebas Go/NoGo y monitorear el estado de pasación/error.

Programabilidad del algoritmo

Los algoritmos de prueba de memoria se pueden codificar de forma rígida en el controlador Tessent MemoryBIST y luego aplicarse a cada memoria a través del control en tiempo de ejecución. Esto le permite seleccionar algoritmos de prueba más cortos a medida que madura el proceso de fabricación.

Autoreparación en chip con conocimiento de energía

La opción de reparación Tessent MemoryBist elimina las complejidades y los costos asociados con los flujos de reparación externos. Prueba y repara permanentemente todos los recuerdos defectuosos en un chip prácticamente sin recursos externos.

Maximice la calidad de las pruebas con Tessent MemoryBist

Vea a Etienne Racine, Gerente de Producto de Tessent, hablar sobre cómo Tessent MemoryBist puede ayudar a maximizar la calidad de las pruebas, minimizar el tiempo de prueba, mejorar el rendimiento y reparar memorias con su arquitectura flexible.

Pregunte a un experto - Hombre y mujer que tienen una consulta en una oficina.

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