Tessent MemoryBist proporciona una solución completa para pruebas rápidas, diagnóstico, reparación, depuración y caracterización de memorias integradas. Aprovechando una arquitectura jerárquica flexible, la autoprueba incorporada y la autorreparación pueden integrarse en núcleos individuales, así como en el nivel superior.
Tessent MemoryBist, una autoprueba integrada de memoria líder en la industria, incluye un flujo de automatización único y completo que proporciona verificación de reglas de diseño, planificación de pruebas, integración y verificación, todo a nivel RTL o puerta.
Tessent MemoryBist ECC mejora la confiabilidad, mejora la calidad de las pruebas y protege contra defectos de envejecimiento. Sus criterios personalizables de pasa/falla permiten una combinación óptima de redundancia de memoria y código de corrección de errores.
Tessent MemoryBist NVM proporciona pruebas y reparaciones flexibles, disminuye los costos de las pruebas de fabricación y mejora la confiabilidad. Los algoritmos automatizados específicos de NVM permiten modos de acceso especializados y funcionan con la opción ECC. Disponible. A principios de 26
El BAP avanzado proporciona una interfaz configurable para optimizar las pruebas en el sistema. También es compatible con un protocolo de baja latencia para configurar el controlador BIST de memoria, ejecutar pruebas Go/NoGo y monitorear el estado de pasación/error.
Los algoritmos de prueba de memoria se pueden codificar de forma rígida en el controlador Tessent MemoryBIST y luego aplicarse a cada memoria a través del control en tiempo de ejecución. Esto le permite seleccionar algoritmos de prueba más cortos a medida que madura el proceso de fabricación.
La opción de reparación Tessent MemoryBist elimina las complejidades y los costos asociados con los flujos de reparación externos. Prueba y repara permanentemente todos los recuerdos defectuosos en un chip prácticamente sin recursos externos.
Vea a Etienne Racine, Gerente de Producto de Tessent, hablar sobre cómo Tessent MemoryBist puede ayudar a maximizar la calidad de las pruebas, minimizar el tiempo de prueba, mejorar el rendimiento y reparar memorias con su arquitectura flexible.
Descubra cómo el uso del software Tessent le permite alinearse con los estándares y regulaciones emergentes al tiempo que ofrece un conjunto completo de soluciones de extremo a extremo para satisfacer los requisitos de los desarrollos actuales de IC automotriz.
Este documento describe las ventajas de usar una arquitectura de bus compartido para probar y reparar memorias dentro de núcleos iPS y presenta la automatización disponible en Tessent MemoryBist.
Este estudio de caso describe cómo ON Semiconductor utilizó el flujo jerárquico de Tessent MemoryBist para reducir el tiempo de inserción de la memoria BIST en 6 veces.
