Tessent LogicBist
Tessent LogicBist es la solución de autoprueba integrada líder en la industria para probar los componentes lógicos digitales de circuitos integrados. Es una solución de prueba ideal para dispositivos críticos para la seguridad, como los circuitos integrados utilizados en aplicaciones automotrices y médicas.
¿Por qué Tessent LogicBist?
Tessent LogicBist se integra de manera eficiente con Tessent MissionMode y Tessent TestKompress para crear una solución completa de prueba en el sistema y de fabricación para dispositivos críticos para la seguridad.
Mejora la cobertura de las pruebas
Diseñada para aplicaciones híbridas TK/LBIST, la tecnología de punto de prueba VersaPoint de Tessent mejora el recuento de patrones ATPG y la capacidad de comprobación lógica BIST al mismo tiempo, mejorando la cobertura de LBIST en un 2% a 4%.
Cumple con el tiempo de prueba en el sistema
Al observar los datos del circuito en cada ciclo de cambio, no solo en la captura, la tecnología de escaneo de observación (OST) reduce significativamente el recuento de patrones necesarios para alcanzar la cobertura de prueba BIST lógica objetivo.
Aumenta la eficiencia de las pruebas
Tessent Hybrid TK/LBIST combina de manera eficiente la arquitectura lógica de Tessent TestKompress y LogicBist para mejorar la calidad de las pruebas y evitar cualquier penalización de área, cosechando los beneficios tanto de la compresión ATPG como del BIST lógico.
Infineon reduce el tiempo de prueba LBIST a la seguridad funcional
En esta presentación, Daniel Tille de Infineon muestra el uso de LogicBist con tecnología de escaneo de observación, que ha demostrado reducir drásticamente el tiempo de prueba de autoprueba lógica incorporada (LBIST) para microcontroladores automotrices (MCU) Infineon.
