Se requieren pruebas y monitoreo continuos de los dispositivos para garantizar un rendimiento óptimo, confiabilidad y seguridad durante toda su operación. Tessent In-System Test permite la aplicación de patrones de prueba deterministas de alta calidad para pruebas en el sistema/en campo durante el ciclo de vida de su chip.
Tessent In-System Test proporciona el hardware integrado y el software necesario para permitir la aplicación de patrones de prueba deterministas de alta calidad al tiempo que reduce el tiempo de prueba en comparación con el BIST lógico tradicional.
La prueba determinista en el sistema le permite cambiar los patrones de prueba a medida que surgen nuevos defectos y modelos de fallas o cuando cambian las necesidades de contenido de la prueba.
El controlador de prueba en el sistema toma datos de las interfaces de bus, lo que impulsa la red de bus Streaming Scan Network internamente para aplicar paquetes de datos de escaneo a los núcleos para realizar pruebas, lo que reduce el tiempo de prueba y mejora el perfil de energía durante la prueba.
Reutiliza la infraestructura de pruebas en chip existente para apuntar a defectos latentes, intermitentes, aleatorios o relacionados con la edad durante la vida útil del producto al permitir la reutilización de patrones basados en IJTAG y SSN para aplicaciones dentro del sistema.
Ofrece capacidades de hardware y software totalmente automatizadas necesarias para responder a factores ambientales y de envejecimiento que se manifiestan como errores silenciosos de datos/corrupción. El contenido de la Test se puede cambiar a medida que evolucionan los requisitos de la prueba.
Lanzado en ITC 2024, Tessent In-System Test (IST) complementa Tessent Streaming Scan Network (SSN) y mejora su capacidad para ser utilizado en un entorno dentro del sistema y en el campo, ampliando así la tecnología avanzada que proporciona Tessent SSN. Los diseñadores pueden aplicar patrones de prueba determinista integrados (EDT) generados con el software Tessent SSN a través del bus SSN directamente utilizando el controlador de prueba en el sistema.
Tessent In-System Test integra la prueba determinista en el sistema (IS-EDT) con Tessent Streaming Scan Network para permitir a los usuarios ejecutar patrones deterministas en el sistema. Si bien la demanda de patrones IS-EDT es crítica en la industria automotriz, esta tecnología también beneficia los diseños de centros de datos y redes. Este documento describe cómo Tessent In-System Test satisface las necesidades de pruebas en el sistema y en el campo.
Descubra cómo el uso del software Tessent le permite alinearse con los estándares y regulaciones emergentes al tiempo que ofrece un conjunto completo de soluciones de extremo a extremo para satisfacer los requisitos de los desarrollos actuales de IC automotriz.
Descubra más sobre el creciente papel de la innovación en el diseño de circuitos integrados (IC) en la transformación digital en este informe técnico.
