¿Por qué Tessent AnalogTest?
Probar circuitos analógicos ha sido tradicionalmente un proceso tedioso y manual. Tessent AnalogTest permite una reducción de 10x-100x en el tiempo de prueba analógica de silicio en comparación con las pruebas de especificación tradicionales.
Reduzca el costo de la prueba
Las pruebas analógicas requieren largos tiempos de prueba en costosos probadores de señal mixta. Tessent AnalogTest genera circuitos DFT de impacto mínimo y patrones de prueba digitales para probar bloques de circuitos analógicos en <1 ms en probadores solo digitales.
Aumente la eficiencia de ingeniería
Tessent AnalogTest transforma la DFT analógica y el desarrollo de pruebas en un proceso rápido y automatizado. Las pruebas estructurales y de especificación se verifican en simulación antes de ejecutarse en ATE o en el sistema, lo que reduce el tiempo de depuración.
Maximice la cobertura de pruebas analógicas
Las pruebas de especificación de circuitos analógicos pueden tener una cobertura de prueba más baja para minimizar la pérdida de rendimiento. DFT y ATPG basados en escaneo digital pueden proporcionar patrones de prueba simulados que logran una mayor cobertura de defectos sin aumentar la pérdida de rendimiento.
Reduzca el tiempo de comercialización con la cobertura de Tessent AnalogTest
Descubra cómo minimizar los escapes de prueba de fabricación para circuitos analógicos y de señal mixta y mejorar el tiempo de comercialización de un producto con Tessent AnalogTest.

