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Microchip de prueba analógica.
Tessent Advanced DFT

Tessent AnalogTest

Tessent AnalogTest reduce el desarrollo y la verificación de patrones de prueba analógicos de meses de ingeniería a horas de ingeniería. Como la única solución comercial disponible actualmente, es la forma más efectiva de maximizar la cobertura de defectos y reducir el costo de las pruebas.

¿Por qué Tessent AnalogTest?

Probar circuitos analógicos ha sido tradicionalmente un proceso tedioso y manual. Tessent AnalogTest permite una reducción de 10x-100x en el tiempo de prueba analógica de silicio en comparación con las pruebas de especificación tradicionales.

Reduzca el costo de la prueba

Las pruebas analógicas requieren largos tiempos de prueba en costosos probadores de señal mixta. Tessent AnalogTest genera circuitos DFT de impacto mínimo y patrones de prueba digitales para probar bloques de circuitos analógicos en <1 ms en probadores solo digitales.

Aumente la eficiencia de ingeniería

Tessent AnalogTest transforma la DFT analógica y el desarrollo de pruebas en un proceso rápido y automatizado. Las pruebas estructurales y de especificación se verifican en simulación antes de ejecutarse en ATE o en el sistema, lo que reduce el tiempo de depuración.

Maximice la cobertura de pruebas analógicas

Las pruebas de especificación de circuitos analógicos pueden tener una cobertura de prueba más baja para minimizar la pérdida de rendimiento. DFT y ATPG basados en escaneo digital pueden proporcionar patrones de prueba simulados que logran una mayor cobertura de defectos sin aumentar la pérdida de rendimiento.

Pregunte a un experto - Hombre y mujer que tienen una consulta en una oficina.

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Reduzca el tiempo de comercialización con la cobertura de Tessent AnalogTest

Descubra cómo minimizar los escapes de prueba de fabricación para circuitos analógicos y de señal mixta y mejorar el tiempo de comercialización de un producto con Tessent AnalogTest.